[发明专利]自适应视场的X射线装置及自适应调整视场的方法在审

专利信息
申请号: 202010174718.8 申请日: 2020-03-13
公开(公告)号: CN111272782A 公开(公告)日: 2020-06-12
发明(设计)人: 彭晟 申请(专利权)人: 彭晟
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 江苏英特东华律师事务所 32229 代理人: 邵骅
地址: 215000 江苏省苏州市高新*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 自适应 视场 射线 装置 调整 方法
【说明书】:

发明公布了一种自适应视场的X射线装置,包括球管、与所述球管相对设置的X射线探测器和样品托盘;样品托盘设置在可升降的托盘支架上;所述托盘支架通过升降控制装置控制升降高度;所述X射线装置上设置有用于检测样品直径大小的样品检测装置。以及自适应调整视场的方法。本发明根据样品直径与样品托架升降高度的关系,通过样品检测装置检测样品直径,然后升降控制装置控制托盘支架升降至设定的高度,使得样品在X射线探测器上的投影与X射线探测器极限视界相匹配,充分的覆盖X射线探测器。从而实现视场的自适应调整,充分利用X射线探测器的成像能力。

技术领域

本发明属于检测设备技术领域,特别是涉及一种有效利用成像范围的自适应视场的X射线装置及自适应调整视场的方法。

背景技术

在X射线检测设备领域,X射线发生器产生X射线以后,X射线穿透被照射物体,之后照射到探测器上,最后通过影像系统得到图像。在这个过程中,被照射物体需要被照射的部分需要完全处于X射线的照射范围内。从X射线发生器到X射线探测器的X光路径一般是立方锥形的结构。故,在不同的光路位置上,被照射物体的最大可拍摄尺寸是不同的。在传统的X射线设备中,被照射物体和X射线探测器之间的位置相对比较固定,或者只有几个可以选择的位置。当被照射物体的尺寸比相应位置的最大可拍摄尺寸小很多的时候,X射线探测器的可用成像范围只被利用了一小部分,成像能力不能被充分使用。或者当被照射物体的尺寸比相应位置的最大可拍摄尺寸大的时候,X射线探测器并不能将被照射物体的影像全部拍摄到。

发明内容

本发明目的在于针对现有X光检测设备存在的缺陷,提供一种能够根据样品大小,有效利用探测器成像范围的自适应视场的X射线装置及自适应调整视场的方法。

本发明为实现上述目的,采用如下技术方案:

自适应视场的X射线装置,包括球管、与所述球管相对设置的X射线探测器和样品托盘;其特征在于:所述样品托盘设置在可升降的托盘支架上;所述托盘支架通过升降控制装置控制升降高度;所述X射线装置上设置有用于检测样品直径大小的样品检测装置。由于样品在X射线探测器上的投影直径与样品托盘至球管之间的距离有关,为了充分利用X射线探测器的成像能力,需要使样品的投影直径与X射线探测器极限视界相匹配。不同大小的样品在X射线探测器上的投影可以通过调整样品托盘的高度来调整。因此,通过样品检测装置检测样品的直径大小,然后根据样品大小,升降控制装置控制托盘支架升降至设定的高度,使得样品在X射线探测器上的投影与X射线探测器极限视界相匹配。

一种形式:所述样品检测装置为位于所述球管侧的摄像头,所述样品托盘上具有长度刻度。通过摄像头拍摄样品托盘上的样品照片,依据样品托盘上刻度读取样品直径大小数据,从而获得样品直径大小,调整样品托盘高度。

另一种形式:所述样品检测装置为位于所述样品托盘上的平面传感器。通过平面传感器检测样品直径大小,再根据样品直径大小调整样品托盘高度。

还有一种形式:所述样品检测装置为降至所述X射线探测器位置的所述样品托盘。当样品托盘降至X射线探测器位置时,样品在X射线探测器上的投影大小等于样品实际大小。使用时通过拍摄一张X光片,通过计算得到样品的尺寸,然后再根据样品直径大小调整样品托盘高度。

优选的:所述托盘支架螺纹连接在由电机驱动的丝杆上。通过电机驱动丝杆转动,带动托盘支架平稳升降。

所述电机固定在导轨支架内,所述导轨支架两侧具有导轨,所述导轨上设置有滑块,所述托盘支架两侧固定连接在所述滑块上。将托盘支架设置在滑块上,沿两根导轨移动,可以使得托盘支架升降更加平稳。

自适应调整视场的方法,采用上述的自适应视场的X射线装置,其特征在于包括下述步骤:

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