[发明专利]自适应视场的X射线装置及自适应调整视场的方法

权利要求书

1.自适应视场的X射线装置，包括球管、与所述球管相对设置的X射线探测器和样品托盘；其特征在于：所述样品托盘设置在可升降的托盘支架上；所述托盘支架通过升降控制装置控制升降高度；所述X射线装置上设置有用于检测样品直径大小的样品检测装置。

2.如权利要求1所述的自适应视场的X射线装置，其特征在于：所述样品检测装置为位于所述球管侧的摄像头，所述样品托盘上具有长度刻度。

3.如权利要求1所述的自适应视场的X射线装置，其特征在于：所述样品检测装置为位于所述样品托盘上的平面传感器。

4.如权利要求1所述的自适应视场的X射线装置，其特征在于：所述样品检测装置为降至所述X射线探测器位置的所述样品托盘。

5.如权利要求1-4任一项所述的自适应视场的X射线装置，其特征在于：所述托盘支架螺纹连接在由电机驱动的丝杆上。

6.如权利要求5所述的自适应视场的X射线装置，其特征在于：所述电机固定在导轨支架内，所述导轨支架两侧具有导轨，所述导轨上设置有滑块，所述托盘支架两侧固定连接在所述滑块上。

7.自适应调整视场的方法，采用如权利要求1-6任一项所述的自适应视场的X射线装置，其特征在于包括下述步骤：

（1）以球管为发射点，X射线探测器探测极限边缘为终点，绘制一个发射扇面；获得升降高度与样品直径的关系公式：h=r/R×H，其中h为样品托盘至球管之间的距离，R为X射线探测器极限视界两侧边缘之间的距离，r为样品直径，H为球管至X射线探测器之间的距离；

（2）将样品放置在样品托盘上，样品检测装置检测样品直径r；

（3）升降控制装置根据样品直径r，采用步骤（1）中的公式计算出h，输出控制信号控制升降装置达到h值，样品的影像与X射线探测器探测极限相匹配。