[发明专利]一种巨量转移方法有效
申请号: | 202010163568.0 | 申请日: | 2020-03-10 |
公开(公告)号: | CN113380681B | 公开(公告)日: | 2022-03-25 |
发明(设计)人: | 江仁杰;钟光韦;伍凯义;杨然翔;沈佳辉 | 申请(专利权)人: | 重庆康佳光电技术研究院有限公司 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L33/00 |
代理公司: | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人: | 李发兵 |
地址: | 402760 重庆市璧*** | 国省代码: | 重庆;50 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 巨量 转移 方法 | ||
本发明涉及显示器制造领域,具体涉及一种巨量转移方法,其步骤包括,提供一生长基板,所述生长基板上有多个LED芯片;提供一临时基板,将所述LED芯片粘附于所述临时基板的所述胶合剂层上,剥离所述生长基板;在所述LED芯片上涂覆形成光刻胶层;曝光显影所述光刻胶层后形成多个凹槽,在所述光刻胶层上涂覆热塑性材料形成热塑性材料转移器,所述待转移的LED芯片粘附至所述热塑性材料转移器上,移除所述光刻胶层,将待转移的LED芯片与所述胶合剂层分离;将所述待转移LED芯片转移至显示背板,加热分离所述热塑性材料转移器,完成LED芯片的转移。无需设置转移头即可完成LED芯片的转移。
技术领域
本发明涉及LED显示器制造技术领域,尤其涉及一种巨量LED芯片转移方法。
背景技术
MICRO-LED显示器,具有良好的稳定性、寿命以及运行温度上的优势,同时也承继了 LED低功耗、色彩饱和度、反应速度快、对比度强等优点,具有极大的应用前景。
通常MICRO-LED显示背板上包括了若干像素区域SPR,每个像素区域SPR包括红光LED、蓝光LED、绿光LED芯片,在显示器的制作过程中,需要将红绿蓝三种LED芯片从 各自的生长基板(WAFER)转移到显示背板上。
传统转移微LED芯片的方法为借由封装基板接合(Wafer Bonding)将微元件自转移封装 基板转移至接收封装基板。转移方法的其中一种实施方法为直接转移,也就是直接将微元件 阵列自转移封装基板接合至接收封装基板,之后通过剥离或者蚀刻将转移封装基板移除,制 作转移常常需要牺牲掉多余的外延层。另一种实施方法为间接转移,首先,转移媒质提取微 元件阵列,接着转移媒质再将微元件阵列接合至接收封装基板,然后移除转移媒质。转移媒 质要求耐高温。
由于微LED芯片尺寸在100um以下,因此,在巨量转移的过程中,传统的制作转移头进行转移。则需要将转移头需要做得非常小与之匹配,对精度要求非常高,因而对转移设备的制造要求也会非常高。
发明内容
基于以上问题,本发明设计一种巨量转移方法,其能够高效且精确的转移微LED芯片, 其具体结构如下。
一种巨量转移方法,包括步骤,
提供一第一生长基板,所述第一生长基板上生长有多个第一LED芯片,每个第一LED 芯片的电极背离所述第一生长基板;
提供一第一临时基板,所述第一临时基板上设置有胶合剂层,将所述第一LED芯片的电 极粘附于所述第一胶合剂层上,剥离所述第一生长基板;
在所述第一临时基板的第一LED芯片上涂覆光刻胶材料,形成第一光刻胶层,所述第一 光刻胶层的厚度H1大于所述第一LED芯片的高度h1;
通过曝光显影方式在所述第一光刻胶层上形成多个第一凹槽,所述待转移的第一LED芯 片从所述第一凹槽中露出;
在加热的条件下,在所述第一光刻胶层上及所述第一凹槽中涂覆热塑性材料,随后冷却 固化形成第一热塑性材料转移器;
待转移的第一LED芯片粘附至所述第一热塑性材料转移器上后,将剩余的所述第一光刻 胶层通过曝光显影的方式移除;
用激光选择性地将所述第一热塑性材料转移器上的LED芯片与对应的胶合剂层分离;
通过移动所述第一热塑性材料转移器,将所述第一热塑性材料转移器上的LED芯片转移 至显示背板,键合所述LED芯片和显示背板,加热所述第一热塑性材料转移器,将其与所述 第一热塑性材料转移器上的LED芯片分离,完成LED芯片的转移过程。
进一步的,如上述方法用第二热塑性材料转移器转移多个第二LED芯片时,若所述第一 LED芯片的高度h1与所述第二LED芯片的高度不相等,预设覆盖所述第LED二芯片的第二光刻胶层的高度为H2,则满足条件:H2-h2>|h2-h1|。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆康佳光电技术研究院有限公司,未经重庆康佳光电技术研究院有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010163568.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造