[发明专利]产品抽样检测方法及装置、电子设备、计算机可读介质

说明书

本公开提供了一种产品抽样检测方法，包括：在生产方对质量特性变量总体均值的下限μ₀′和购买方对质量特性变量总体均值的下限μ₀″之间设定下限变量k′；在生产方对质量特性变量总体均值的上限μ₁′和购买方对质量特性变量总体均值的上限μ₁″之间设定上限变量k″；并且，当样本均值满足时，判定产品质量合格；否则，判定产品质量不合格。该产品抽样检测方法提出了一种通用的抽检方案，能够简化计算公式，不需要附带表格，推进了抽检理论，方便了应用，提高了应用价值。本公开还提供了一种产品抽样检测装置、电子设备、计算机可读介质。

技术领域

本公开实施例涉及计算机技术领域，特别涉及一种产品抽样检测方 法及装置、电子设备、计算机可读介质。

背景技术

商品的质量是企业和消费者关注的重要重点，不仅影响消费者的消 费热情，还影响企业的形象。因此，在将商品推向市场前，需要对商品的 质量进行抽样检查(简称“抽检”)。

目前，抽检方式主要有计数抽检和计量抽检，其中，计数抽样是按 照抽检出不合格数量判定该批次是否合格，其具有较大的漏判风险，无法 保障总体产品的质量，起不到预想的效果，无法守护产品的质量安全。计 量抽检是根据样本质量特性的均值或标准差作为判定。其中，k法是产品 抽样检验中的常用方法之一。在总体方差已知时的双侧法计量检验方案， 公式复杂，需要附带表格，操作程序繁琐，且仅限于上限下限对称的特殊 情形。

公开内容

本公开实施例提供一种产品抽样检测方法及装置、电子设备、计算 机可读介质。

第一方面，本公开实施例提供一种产品抽样检测方法，包括：

在生产方对质量特性变量总体均值的下限μ′₀和购买方对质量特性变 量总体均值的下限μ″₀之间设定下限变量k′；

在生产方对质量特性变量总体均值的上限μ′₁和购买方对质量特性变 量总体均值的上限μ″₁之间设定上限变量k″；

并且，当样本均值满足时，判定产品质量合格；否则， 判定产品质量不合格。

在一些实施例中，在抽检产品时，判定产品合格的规则包括：

当μ＝μ″₀时，判定产品合格的接收概率

当μ＝μ′₀时，判定产品合格的接收概率

当μ＝μ′₁时，判定产品合格的接收概率

当μ＝μ″₁时，判定产品合格的接收概率

其中，μ为质量特性变量的总体均值，μ′₀、μ′₁分别为生产方对质量 特性变量总体均值的下限和上限，μ″₀、μ″₁分别购买方对质量特性变量总 体均值的下限和上限，为样本均值，P为判定产品合格的接收概率，k′和 k″分别为下限变量和上限变量；β₀为μ＝μ″₀时的容许最大取伪下限概率， β₁为μ＝μ″₁时的容许最大取伪上限概率；1-α₀是μ＝μ′₀时的容许最大弃 真下限概率，1-α₁是μ＝μ′₁时的容许最大弃真上限概率。

在一些实施例中，所述下限变量k′按照以下公式计算：

和/或，所述上限变量k″按照以下公式计算：