[发明专利]产品抽样检测方法及装置、电子设备、计算机可读介质

权利要求书

1.一种产品抽样检测方法，包括：

在生产方对质量特性变量总体均值的下限μ′₀和购买方对质量特性变量总体均值的下限μ″₀之间设定下限变量k′；

在生产方对质量特性变量总体均值的上限μ′₁和购买方对质量特性变量总体均值的上限μ″₁之间设定上限变量k″；

并且，当样本均值满足时，判定产品的质量合格；否则，判定产品的质量不合格；

在抽检产品时，产品的质量合格的判定规则包括：

当μ＝μ″₀时，判定产品合格的接收概率

当μ＝μ′₀时，判定产品合格的接收概率

当μ＝μ′₁时，判定产品合格的接收概率

当μ＝μ″₁时，判定产品合格的接收概率

其中，μ为质量特性变量的总体均值，μ′₀、μ′₁分别为生产方对质量特性变量总体均值的下限和上限，μ″₀、μ″₁分别购买方对质量特性变量总体均值的下限和上限，为样本均值，P为判定产品合格的接收概率，k′和k″分别为下限变量和上限变量；β₀为μ＝μ″₀时的容许最大取伪下限概率，β₁为μ＝μ″₁时的容许最大取伪上限概率；1-α₀是μ＝μ′₀时的容许最大弃真下限概率，1-α₁是μ＝μ′₁时的容许最大弃真上限概率；

所述下限变量k′按照以下公式计算：

和/或，所述上限变量k″按照以下公式计算：

和/或，样本量n按照以下公式计算：

其中，k′和k″分别为下限变量和上限变量；μ′₀、μ′₁分别为生产方对质量特性变量总体均值的下限和上限，μ″₀、μ″₁分别购买方对质量特性变量总体均值的下限和上限，为1-α₀所对应的正态分布的上侧分位数，为1-α₁所对应的正态分布的上侧分位数，为β₀所对应的正态分布的上侧分位数，为β₁所对应的正态分布的上侧分位数，σ²为方差。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，当所述容许最大取伪下限概率β₀和所述容许最大取伪上限概率β₁相等，且β₀＝β₁＝β时；

所述样本量n按照以下公式计算：

和/或，所述下限变量k′按照以下公式计算：

和/或，所述上限变量k″按照以下公式计算：

其中，μ′₀、μ′₁分别为生产方对质量特性变量总体均值的下限和上限，μ″₀、μ″₁分别购买方对质量特性变量总体均值的下限和上限，为1-α₀所对应的正态分布的上侧分位数，为1-α₁所对应的正态分布的上侧分位数，z_β为β所对应的正态分布的上侧分位数，σ²为方差。