[发明专利]一种环境分析实验前处理设备用冷阱装置

权利要求书

1.一种环境分析实验前处理设备用冷阱装置，其特征在于，包括上散热装置、下散热装置、上半导体制冷片、下半导体制冷片、保温管、保温管支架以及若干支撑柱，所述上散热装置与所述下散热装置通过若干所述支撑柱相连，且所述上散热装置与所述下散热装置上下相对设置，所述上半导体制冷片和所述下半导体制冷片分别外接电源，所述上半导体制冷片和所述下半导体制冷片分别具有热面和冷面，所述上半导体制冷片的热面与所述上散热装置贴合，所述下半导体制冷片的热面与所述下散热装置贴合，所述上半导体制冷片的冷面与所述保温管支架的上端面贴合，所述下半导体制冷片的冷面与所述保温管支架的下端面贴合，所述保温管接触并贯穿所述保温管支架，所述保温管支架内置温度传感器。

2.根据权利要求1所述的一种环境分析实验前处理设备用冷阱装置，其特征在于：所述上散热装置和下散热装置分别包括散热片架以及安装在所述散热片架上的散热风扇。

3.根据权利要求2所述的一种环境分析实验前处理设备用冷阱装置，其特征在于：所述上半导体制冷片和下半导体制冷片分别与所述散热片架面接触。

4.根据权利要求1所述的一种环境分析实验前处理设备用冷阱装置，其特征在于：所述保温管支架包括相对设置的上半片构件和下半片构件，所述上半片构件与所述下半片构件关于所述保温管的中心呈中心对称分布。

5.根据权利要求1所述的一种环境分析实验前处理设备用冷阱装置，其特征在于：所述上半片构件和下半片构件分别包括具有平面的第一接触部和具有弧面的第二接触部，所述第一接触部与所述上半导体制冷片和下半导体制冷片面接触，所述第二接触部与所述保温管面接触。

6.根据权利要求1所述的一种环境分析实验前处理设备用冷阱装置，其特征在于：所述上散热装置、下散热装置以及若干支撑柱之间围成的间隙中填充有保温膨胀剂，所述保温膨胀剂包裹所述上半导体制冷片、下半导体制冷片、保温管和保温管支架。