[发明专利]X射线照影方法及其系统

说明书

本发明涉及一种X射线照影方法及其系统，该X射线照影方法包含多个步骤：(a)执行一第一物体照影，通过检测穿过一第一物体的一X射线，获得一第一物体强度信号；(b)执行一基准照影，通过检测该第一物体不在一照影范围时该X射线，获得一基准强度信号；以及(c)由该第一物体强度信号、该基准强度信号及该第一物体的一第一衰减系数进行运算，获得该第一物体的一第一厚度。

技术领域

本发明涉及一种X射线照影方法及系统，特别是利用X射线测量物体厚度、质量、以及吸收剂量的方法及系统。

背景技术

一般而言，现行用于X光影像对于物体进行辐射剂量测量时，皆须使用特定的剂量测量仪器，如：游离腔、比例检测器等高价设备，此等设备价格昂贵，若于二维影像或电脑断层影像上配备这样的剂量测量设备则会增加材料成本。

此外，若采用热发光剂量器(Thermo Luminescent Dosimeter，TLD)进行测量，则可能因为其原理限制无法获得即时剂量。另外，亦有其他估算辐射剂量的方式，例如应用蒙地卡罗模拟，但使用蒙地卡罗进行模拟以计算剂量与物体体厚的方式，须使用高阶电脑进行运算，其运算相当耗时。

发明内容

为了解决上述的问题，本公开内容的一态样提供了一种X射线照影方法，包含多个步骤：(a)执行一第一物体照影，通过检测穿过一第一物体的一X射线，获得一第一物体强度信号；(b)执行一基准照影，通过检测该第一物体不在一照影范围时该X射线，获得一基准强度信号；以及(c)由该第一物体强度信号、该基准强度信号及该第一物体的一第一衰减系数进行运算，获得该第一物体的一第一厚度。

本发明的又一态样是提供一种X射线照影方法，包含多个步骤：(a)执行一第一物体照影，通过检测穿过一第一物体的一X射线，获得一第一物体强度信号；(b)执行一基准照影，通过检测该第一物体不在一照影范围中时该X射线，获得一基准强度信号；以及(c)执行一第二物体照影，通过检测穿过一第二物体的该X射线，获得一第二物体强度信号；(d)由该第一物体强度信号与该第二物体强度信号进行运算，获得一样本强度信号，其中该第一物体是一载台，该第二物体包含一样本及该载台；以及(e)由该样本强度信号、该基准强度信号及一样本衰减系数进行运算，获得一样本厚度。

本发明的再一态样是提供一种X射线照影系统，包含一X射线源、一检测器以及一处理器。X射线源配置于产生一X射线。检测器配置于检测该X射线。处理器，耦接于该检测器，该处理器配置于执行X射线照影方法。

本发明所示的X射线照影系统及估算物体信息的方法，通过检测器上的信号数值进行物体体厚运算以及辐射剂量计算，通过此运算能够直接从影像上得知物体厚度以及物体内所吸收的辐射剂量，此技术可以应用至即时提供当下X射线源给予的剂量率、累积剂量以及物体所吸收的平均剂量，于实际应用中操作者能够通过X光拍摄的当下得知物体体厚且无须另外加装昂贵的辐射检测器即可得知目前辐射剂量率以及物体所吸收的平均剂量。

附图说明

图1是依照本发明一实施例示出X射线照影方法的流程图。

图2是依照本发明一实施例X射线照影方法的流程图。

图3A～图3C是依照本发明一实施例示出X射线照影系统的示意图。

图4是依照本发明一实施例示出X射线能量-光子数的示意图。

图5是依照本发明一实施例示出厚度特征曲线的示意图。

图6是依照本发明一实施例示出应用X射线运算物体厚度的方法的流程图。

图7是依照本发明一实施例示出衰减系数的示意图。

图8是依照本发明一实施例示出样本吸收系数的示意图。

图9是依照本发明一实施例示出计算样本吸收剂量方法的示意图。

其中，附图标记说明如下：