[发明专利]图像处理方法、图像处理装置、存储介质和系统在审

专利信息
申请号: 202010149970.3 申请日: 2020-03-06
公开(公告)号: CN113361553A 公开(公告)日: 2021-09-07
发明(设计)人: 刘璘 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62;G06T7/00;G06T7/66;G06T7/73
代理公司: 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 代理人: 肖华
地址: 日本东京都大*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 图像 处理 方法 装置 存储 介质 系统
【权利要求书】:

1.一种图像处理方法,其特征在于,所述方法包括:

设置步骤,为被测物创建多个模板,并设置模板的多个参数阈值;

计算步骤,获取安装后的所述被测物的图像,计算每个模板相对于所述图像的匹配参数,并根据所述图像计算所述被测物的真实参数;

选取步骤,根据所述每个模板的所述匹配参数、所述真实参数、以及所述多个参数阈值,从所述多个模板中选取最终模板,并确定最终参数;

确定步骤,根据所述最终模板和所述最终参数,确定所述被测物是否安装正确。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述设置步骤进一步包括:计算所述每个模板的特征参数,设置所述特征参数的特征参数阈值,并且设置模板相对于所述被测物的匹配参数的匹配参数阈值;

其中,所述多个参数阈值包括所述特征参数阈值和所述匹配参数阈值。

3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述匹配参数包括匹配角度、匹配百分比、匹配中心坐标,所述真实参数包括真实特征参数和真实中心坐标。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述选取步骤进一步包括:

将所述每个模板的所述匹配参数与所述匹配参数阈值进行比较,以便从所述多个模板中取出第一部分模板;

将所述真实特征参数与所述特征参数阈值进行比较,以便从所述第一部分模板中取出第二部分模板;

将所述真实中心坐标与所述第二部分模板各自的匹配中心坐标进行比较,以便从所述第二部分模板中取出第三部分模板;

将所述第三部分模板中所述匹配百分比最高的模板取出,作为所述最终模板。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述选取步骤进一步包括:

将所述每个模板的匹配角度与所述匹配参数阈值中的匹配角度阈值进行比较,以便从所述多个模板中取出第四部分模板;

根据所述第四部分模板各自的匹配角度,确定所述最终参数;

其中,所述最终参数是最终匹配角度。

6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述设置步骤进一步包括:针对所述被测物,设置所述每个模板的基准匹配角度,

其中,在所述确定步骤中,将所述最终匹配角度与所述最终模板的所述基准匹配角度进行比较,以确定所述被测物是否安装正确。

7.如权利要求4-6中任一项所述的方法,其特征在于,所述特征参数是模板中的被测物与参考物之间的多个相对参数,所述真实特征参数是所述图像中的被测物与参考物之间的多个真实相对参数。

8.一种图像处理装置,其特征在于,所述装置包括:

设置单元,为被测物创建多个模板,并设置模板的多个参数阈值;

计算单元,获取安装后的所述被测物的图像,计算每个模板相对于所述图像的匹配参数,并根据所述图像计算所述被测物的真实参数;

选取单元,根据所述每个模板的所述匹配参数、所述真实参数、以及所述多个参数阈值,从所述多个模板中选取最终模板,并确定最终参数;

确定单元,根据所述最终模板和所述最终参数,确定所述被测物是否安装正确。

9.如权利要求8所述的装置,其特征在于,所述设置单元进一步计算所述每个模板的特征参数,设置所述特征参数的特征参数阈值,并且设置模板相对于所述被测物的匹配参数的匹配参数阈值;

其中,所述多个参数阈值包括所述特征参数阈值和所述匹配参数阈值。

10.如权利要求8或9所述的装置,其特征在于,所述匹配参数包括匹配角度、匹配百分比、匹配中心坐标,所述真实参数包括真实特征参数和真实中心坐标。

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