[发明专利]一种基于模板的helm参数批量配置方法在审
申请号: | 202010122176.X | 申请日: | 2020-02-26 |
公开(公告)号: | CN111338657A | 公开(公告)日: | 2020-06-26 |
发明(设计)人: | 傅丰;潘峰;唐晓东;蔡卫卫;高传集 | 申请(专利权)人: | 山东汇贸电子口岸有限公司 |
主分类号: | G06F8/61 | 分类号: | G06F8/61;G06F8/71 |
代理公司: | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人: | 冯春连 |
地址: | 250100 山东省济南市*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 模板 helm 参数 批量 配置 方法 | ||
1.一种基于模板的helm参数批量配置方法,其特征在于,基于所有chart的模板文件库和对应环境的基本配置文件库,
在部署环境之外执行构建操作,读取部署环境的values配置,
在部署环境中执行运行操作,将构建时确定的values配置和与环境相关的变量结合,组成armada的chart格式,以chart group的形式调用kubernetes集群中的tiller来部署chart。
2.根据权利要求1所述的一种基于模板的helm参数批量配置方法,其特征在于,对于一个chart,模板文件库中包含一份armada格式的chart name.yaml文件,以及一份chart的values.yaml文件的拷贝;拷贝的values文件作为jinjia2模板,从中将依赖于环境的变量以chart group的形式抽取出来;从模板中抽取出来的变量随着环境变更,会在运行时渲染到模板文件中,然后组合到chart name.yaml文件中发送给armada。
3.根据权利要求2所述的一种基于模板的helm参数批量配置方法,其特征在于,所述模板文件库中包含armada格式的chart模板、values模板、Runtime vars模板;
Armada格式的chart模板具体定义了armada需要的chart信息,运行时将values填充计算出的实际values后调用armada api部署;
values模板包含所有chart的values模板,values模板以chart group的格式划分,即同个chart group的chart分享一个values模板,同时,global values对应的globalvalues模板可以作用于所有的chart group中的chart;
Runtime vars模板定义了运行时变量,以环境划分。
4.根据权利要求3所述的一种基于模板的helm参数批量配置方法,其特征在于,所述values模板包含chart group values模板、global values模板、custom values模板以及version values;其中,version values中包含每个chart的具体来源,包含其git地址、分支、以及具体项目路径。
5.根据权利要求4所述的一种基于模板的helm参数批量配置方法,其特征在于,构建操作包括三个步骤:
步骤一、确定需要的chart及版本:从环境基本配置文件库获取安装chart的chart名称和版本、chart的代码源地址、镜像源地址;
步骤二、预校验chart,收集chart的values.yaml并组合global.yaml:根据步骤一确定的chart及版本克隆所有安装的chart,收集chart的values的global部分,组成global.yaml,以chart group的形式收集chart values,收集chart所有镜像,Helm lint预检测chart;
步骤三、预渲染运行时变量:使用chart的模板文件库中的运行时变量,以chart group的形式渲染chart的values模板,检测key值是否正确。
6.根据权利要求5所述的一种基于模板的helm参数批量配置方法,其特征在于,执行构建操作后,生成部分构建信息至部署环境的基本配置文件库中,生成的信息包含:安装chart包含镜像列表,chart的values模板文件,运行时变量拷贝;生成的信息用于支持运行和部署人员出安装包。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于山东汇贸电子口岸有限公司,未经山东汇贸电子口岸有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010122176.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:图像处理方法、装置、电子设备及介质
- 下一篇:体温测量方法、装置及系统