[发明专利]电能的计量方法、装置和电能表

说明书

本发明提供了一种电能的计量方法、装置和电能表，该方法应用于电能表，电能表内置有多个独立的计量芯片，包括：通过多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样，得到相关参数的值；根据相关参数的值，计量电能表的电能值。该方式中，利用多个独立的计量芯片，进行相关参数的采样，降低了成本，提高了电能表工作的稳定性。

技术领域

本发明涉及计量电能技术领域，尤其是涉及一种电能的计量方法、装置和电能表。

背景技术

相关技术中，三相电能表可以采用一个三相计量芯片，通过三路互感器采样低电压或低电流，然后通过MCU(Microcontroller Unit，微控制单元)读取当前电能表计量的电压，电流，功率，电量等参数。由于电能表内部空间的限制，使得体积较大的互感器，不易安装；另外，三相计量芯片的成本较高，且电能表工作的稳定性较低。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种电能的计量方法、装置和电能表，以降低成本，提高电能表工作的稳定性。

第一方面，本发明实施例提供了一种电能的计量方法，该方法应用于电能表，电能表内置有多个独立的计量芯片，该方法包括：通过多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样，得到相关参数的值；根据相关参数的值，计量电能表的电能值。

进一步的，三相相关参数至少包括：A相、B相、C相的功率、电压、电流和相位值；多个独立的计量芯片包括锰铜电阻；通过多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样的步骤，包括：通过多个独立的计量芯片中的锰铜采样电阻，对A相、B相、C相的功率、电压、电流和相位值进行采样。

进一步的，电能表还内置有MCU；MCU和多个独立的计量芯片通过光耦隔离的方式连接；通过多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样，得到相关参数值的步骤之后，上述方法还包括：利用MCU，从多个独立的计量芯片中，读取相关参数的值。

进一步的，利用MCU，从多个独立的计量芯片中，读取所述相关参数的值的步骤，包括：利用MCU，通过SPI接口，从多个独立的计量芯片中，读取相关参数的值。

进一步的，根据相关参数的值，计量电能表的电能值的步骤，包括：计算三相功率的累加和，得到当前功率；将当前功率乘以用电时间，计量电能表的电能值。

进一步的，根据相关参数的值，计量电能表的电能值的步骤之后，上述方法还包括：根据预设的脉冲常数，确定脉冲当量的目标电能；定时读取当前三相功率的累加电能；如果累加电能大于目标电能，计算累加电能与目标电能的差值；将当前累加电能更新为差值；发送脉冲；脉冲的能量为目标电能；继续执行定时读取当前三相功率的累加电能的步骤。

进一步的，上述方法还包括：根据接收到的脉冲数量，以及脉冲当量的目标电能，进行电能表计量结果的误差校准和检测。

第二方面，本发明实施例提供了一种电能的计量装置，该装置应用于电能表，电能表内置有多个独立的计量芯片，该装置包括：参数采样模块，用于通过多个独立的计量芯片，对三相相关参数进行采样，得到相关参数的值；电能计量模块，用于根据相关参数的值，计量电能表的电能值。

进一步的，三相相关参数至少包括：A相、B相、C相的功率、电压、电流和相位值；多个独立的计量芯片包括锰铜电阻；参数采样模块，用于通过多个独立的计量芯片中的锰铜采样电阻，对A相、B相、C相的功率、电压、电流和相位值进行采样。

第三方面，本发明实施例提供了一种电能表，该电能表包括：处理设备和存储装置；存储装置上存储有计算机程序，计算机程序在被处理设备运行时执行如第一方面任一实施方式的电能的计量方法。

本发明实施例带来了以下有益效果：