[发明专利]电能的计量方法、装置和电能表在审
| 申请号: | 202010083801.4 | 申请日: | 2020-02-10 |
| 公开(公告)号: | CN111089991A | 公开(公告)日: | 2020-05-01 |
| 发明(设计)人: | 郑海锋;陈建锋;张亮;钱红斌;牛延谋 | 申请(专利权)人: | 华立科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R11/00 | 分类号: | G01R11/00;G01R22/10 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 何少岩 |
| 地址: | 310000 浙江省杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电能 计量 方法 装置 电能表 | ||
1.一种电能的计量方法,其特征在于,所述方法应用于电能表,所述电能表内置有多个独立的计量芯片,所述方法包括:
通过所述多个独立的计量芯片,对三相相关参数进行采样,得到所述相关参数的值;
根据所述相关参数的值,计量电能表的电能值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述三相相关参数至少包括:A相、B相、C相的功率、电压、电流和相位值;所述多个独立的计量芯片包括锰铜电阻;
通过所述多个独立的计量芯片,对三相相关参数进行采样的步骤,包括:
通过所述多个独立的计量芯片中的锰铜采样电阻,对A相、B相、C相的功率、电压、电流和相位值进行采样。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电能表还内置有MCU;所述MCU和所述多个独立的计量芯片通过光耦隔离的方式连接;
通过所述多个独立的计量芯片,对三相相关参数进行采样,得到相关参数值的步骤之后,所述方法还包括:利用MCU,从所述多个独立的计量芯片中,读取所述相关参数的值。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,利用MCU,从所述多个独立的计量芯片中,读取所述相关参数的值的步骤包括:利用MCU,通过SPI接口,从所述多个独立的计量芯片中,读取所述相关参数的值。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述相关参数的值,计量电能表的电能值的步骤,包括:
计算三相功率的累加和,得到当前功率;
将所述当前功率乘以用电时间,计量电能表的电能值。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述相关参数的值,计量电能表的电能值的步骤之后,所述方法还包括:
根据预设的脉冲常数,确定脉冲当量的目标电能;
定时读取当前三相功率的累加电能;
如果所述累加电能大于所述目标电能,计算所述累加电能与所述目标电能的差值;将当前累加电能更新为所述差值;
发送脉冲;所述脉冲的能量为目标电能;继续执行定时读取当前三相功率的累加电能的步骤。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
根据接收到的脉冲数量,以及所述脉冲当量的目标能量,进行电能表计量结果的误差校准和检测。
8.一种电能的计量装置,所述装置应用于电能表,所述电能表内置有多个独立的计量芯片,所述装置包括:
参数采样模块,用于通过所述多个独立的计量芯片,对三相相关参数进行采样,得到所述相关参数的值;
电能计量模块,用于根据所述相关参数的值,计量电能表的电能值。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述三相相关参数至少包括:A相、B相、C相的功率、电压、电流和相位值;所述多个独立的计量芯片包括锰铜电阻;
所述参数采样模块,用于通过所述多个独立的计量芯片中的锰铜采样电阻,对A相、B相、C相的功率、电压、电流和相位值进行采样。
10.一种电能表,其特征在于,所述电能表包括:处理设备和存储装置;
所述存储装置上存储有计算机程序,所述计算机程序在被所述处理设备运行时执行如权利要求1至7任一项所述的电能的计量方法。
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