[发明专利]电能的计量方法、装置和电能表在审

专利信息
申请号: 202010083801.4 申请日: 2020-02-10
公开(公告)号: CN111089991A 公开(公告)日: 2020-05-01
发明(设计)人: 郑海锋;陈建锋;张亮;钱红斌;牛延谋 申请(专利权)人: 华立科技股份有限公司
主分类号: G01R11/00 分类号: G01R11/00;G01R22/10
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 何少岩
地址: 310000 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 电能 计量 方法 装置 电能表
【权利要求书】:

1.一种电能的计量方法,其特征在于,所述方法应用于电能表,所述电能表内置有多个独立的计量芯片,所述方法包括:

通过所述多个独立的计量芯片,对三相相关参数进行采样,得到所述相关参数的值;

根据所述相关参数的值,计量电能表的电能值。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述三相相关参数至少包括:A相、B相、C相的功率、电压、电流和相位值;所述多个独立的计量芯片包括锰铜电阻;

通过所述多个独立的计量芯片,对三相相关参数进行采样的步骤,包括:

通过所述多个独立的计量芯片中的锰铜采样电阻,对A相、B相、C相的功率、电压、电流和相位值进行采样。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电能表还内置有MCU;所述MCU和所述多个独立的计量芯片通过光耦隔离的方式连接;

通过所述多个独立的计量芯片,对三相相关参数进行采样,得到相关参数值的步骤之后,所述方法还包括:利用MCU,从所述多个独立的计量芯片中,读取所述相关参数的值。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,利用MCU,从所述多个独立的计量芯片中,读取所述相关参数的值的步骤包括:利用MCU,通过SPI接口,从所述多个独立的计量芯片中,读取所述相关参数的值。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述相关参数的值,计量电能表的电能值的步骤,包括:

计算三相功率的累加和,得到当前功率;

将所述当前功率乘以用电时间,计量电能表的电能值。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述相关参数的值,计量电能表的电能值的步骤之后,所述方法还包括:

根据预设的脉冲常数,确定脉冲当量的目标电能;

定时读取当前三相功率的累加电能;

如果所述累加电能大于所述目标电能,计算所述累加电能与所述目标电能的差值;将当前累加电能更新为所述差值;

发送脉冲;所述脉冲的能量为目标电能;继续执行定时读取当前三相功率的累加电能的步骤。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

根据接收到的脉冲数量,以及所述脉冲当量的目标能量,进行电能表计量结果的误差校准和检测。

8.一种电能的计量装置,所述装置应用于电能表,所述电能表内置有多个独立的计量芯片,所述装置包括:

参数采样模块,用于通过所述多个独立的计量芯片,对三相相关参数进行采样,得到所述相关参数的值;

电能计量模块,用于根据所述相关参数的值,计量电能表的电能值。

9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述三相相关参数至少包括:A相、B相、C相的功率、电压、电流和相位值;所述多个独立的计量芯片包括锰铜电阻;

所述参数采样模块,用于通过所述多个独立的计量芯片中的锰铜采样电阻,对A相、B相、C相的功率、电压、电流和相位值进行采样。

10.一种电能表,其特征在于,所述电能表包括:处理设备和存储装置;

所述存储装置上存储有计算机程序,所述计算机程序在被所述处理设备运行时执行如权利要求1至7任一项所述的电能的计量方法。

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