[发明专利]监测液晶精度的方法、重力感应机台及存储介质

说明书

本发明提供一种监测液晶精度的方法、重力感应机台及存储介质，通过机台表面安装多个重量传感器，并通过真空吸盘吸附基板使基板充分接触重量传感器，重力感应机台检测液晶滴入前后基板重量的数据变化，通过比较基板上前后的重量数据差值，与预先设置的液晶精度进行比较，进而可以判断制程中液晶量是否符合标准，并且可以在超出预设阈值之后，可以发送警示信号，进而可以及时拦截该基板，避免造成更大的损失。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种监测液晶精度的方法、重力感应机台及存储介质。

背景技术

液晶显示屏制程中，成盒工艺中使用液晶滴下机将液晶滴在TFT或CF基板上，为确保显示效果，液晶量需要经过精密的天平计量调整液晶滴下量，确保按照要求重量进行滴下，保证在TFTCF基板贴合后得到稳定的盒厚。

液晶滴下机的核心部件为液晶头，液晶头主要组成包括液晶瓶(内有液晶)，filter(过滤作用)，Tank(存储液晶)，气压阀(控制液晶管路通闭)，导管(液晶输送)，IJPNozzle(液晶精准滴下)，加热器(对液晶加热，降低液晶粘度)，电压控制器，这些部件的协同作用保证了整个液晶的滴下控制，其中加热器和电压控制器对液晶的滴下精度起着关键性作用。

现有对液晶实际滴下量的监控是靠天平系统，每次开始生产前使用天平对液晶滴下系统的精度进行确认，满足±0.2％的误差范围判定进行生产，生产过程中会每隔20sheet/40sheet/100sheet再进行精度确认，判定是否需要再进行校正操作。这种监控方式并不能有效监控实际滴在当片基板上的液晶量，只能依靠设备的精准度进行判定，若天平系统或控制滴下系统出现异常很难在第一时间发现滴下量的异常变化，从而造成产品因滴入异常的液晶量影响产品品质。

发明内容

本发明的目的是提供一种监测液晶精度的方法、重力感应机台及存储介质，用以解决液晶滴下精度不准导致经济损失的问题。

为了达到上述目的，本发明提供一种监测液晶精度的方法，包括：数据库建立步骤，获取一基板的第一重量数据以及第二重量数据并存入数据库中，所述第一重量数据为所述基板的初始的重量数据，所述第二重量数据为所述基板经过滴落液晶制程后的重量数据；采集步骤，从所述数据库中采集所述第一重量数据以及所述第二重量数据；比对步骤，将所述第一重量数据与所述第二重量数据差值与一预设阈值进行比对。

进一步地，所述比对步骤中，需要判断所述差值是否超过一预设阈值，若所述差值超过所述预设阈值，则拦截所述基板。

进一步地，发送步骤，将所述第一重量数据和所述第二重量数据发送至计算机中。

本发明提供一种重力感应机台，包括：框架；若干重量传感器，所述重量传感器阵列式安装在所述框架上，用来感应一基板的重量；以及控制系统，连接至所述重量传感器，用以获得所述基板的第一重量数据以及第二重量数据，并将所述第一重量数据与所述第二重量数据差值与一预设阈值进行比对；其中所述第一重量数据为所述基板的初始的重量数据，所述第二重量数据为所述基板经过滴落液晶制程后的重量数据。

进一步地，所述控制系统包括：数据库建立单元，用以获取所述基板的所述第一重量数据以及所述第二重量数据并存入数据库中；采集单元，用以从所述数据库中采集所述第一重量数据以及所述第二重量数据；比对单元，用以将所述第一重量数据与所述第二重量数据差值与一预设阈值进行比对。

进一步地，所述重量传感器通过第一安装条安装于所述框架上。

进一步地，还包括：若干真空吸盘，安装于所述框架上；所述真空吸盘通过第二安装条安装于所述框架上，所述第一安装条与所述第二安装条相互平行。

进一步地，所述控制系统还包括有一控制单元，用来判断所述差值是否超过一预设阈值，若所述差值超过所述预设阈值，则拦截该基板。