[发明专利]监测液晶精度的方法、重力感应机台及存储介质在审

专利信息
申请号: 202010081973.8 申请日: 2020-02-06
公开(公告)号: CN111272455A 公开(公告)日: 2020-06-12
发明(设计)人: 张隆贤 申请(专利权)人: 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: G01M99/00 分类号: G01M99/00;G01G19/62
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 杨艇要
地址: 518132 广东省深*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 监测 液晶 精度 方法 重力 感应 机台 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种监测液晶精度的方法,其特征在于,包括:

数据库建立步骤,获取一基板的第一重量数据以及第二重量数据并存入数据库中,所述第一重量数据为所述基板的初始的重量数据,所述第二重量数据为所述基板经过滴落液晶制程后的重量数据;

采集步骤,从所述数据库中采集所述第一重量数据以及所述第二重量数据;

比对步骤,将所述第一重量数据与所述第二重量数据差值与一预设阈值进行比对。

2.如权利要求1所述的监测液晶精度的方法,其特征在于,

所述比对步骤中,需要判断所述差值是否超过所述预设阈值,若所述差值超过所述预设阈值,则拦截所述基板。

3.如权利要求2所述的监测液晶精度的方法,其特征在于,在所述比对步骤之后,还包括:

发送步骤,将所述第一重量数据和所述第二重量数据发送至计算机中。

4.一种重力感应机台,其特征在于,包括:

框架;

若干重量传感器,所述重量传感器阵列式安装在所述框架上,用来感应一基板的重量;以及

控制系统,连接至所述重量传感器,用以获得所述基板的第一重量数据以及第二重量数据,并将所述第一重量数据与所述第二重量数据差值与一预设阈值进行比对;其中所述第一重量数据为所述基板的初始的重量数据,所述第二重量数据为所述基板经过滴落液晶制程后的重量数据。

5.如权利要求4所述的重力感应机台,其特征在于,

所述控制系统包括:

数据库建立单元,用以获取所述基板的所述第一重量数据以及所述第二重量数据并存入数据库中;

采集单元,用以从所述数据库中采集所述第一重量数据以及所述第二重量数据;

比对单元,用以将所述第一重量数据与所述第二重量数据差值与所述预设阈值进行比对。

6.如权利要求4所述的重力感应机台,其特征在于,

所述重量传感器通过第一安装条安装于所述框架上。

7.如权利要求6所述的重力感应机台,其特征在于,还包括:若干真空吸盘,安装于所述框架上;

所述真空吸盘通过第二安装条安装于所述框架上,所述第一安装条与所述第二安装条相互平行。

8.如权利要求5所述的重力感应机台,其特征在于,

所述控制系统还包括有一控制单元,用来判断所述差值是否超过所述预设阈值,若所述差值超过所述预设阈值,则拦截该基板。

9.如权利要求8所述的重力感应机台,其特征在于,

所述控制系统还能够将所述第一重量数据与所述第二重量数据发送至计算机中。

10.一种存储介质,该存储介质上存储有计算机程序,在控制系统执行所述计算机程序时可实现权利要求1~3中任一项所述的方法。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电半导体显示技术有限公司,未经深圳市华星光电半导体显示技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010081973.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top