[发明专利]管脚复用的测试修调系统、方法、计算机设备和存储介质

权利要求书

1.一种管脚复用的测试修调系统，其特征在于，所述管脚复用的测试修调系统集成在芯片上，所述系统包括复用管脚、模式选择模块、通道选择模块、测试模块和修调模块，

在所述复用管脚输入脉冲信号的情况下，所述模式选择模块输入所述脉冲信号，所述模式选择模块输出时钟信号给所述通道选择模块；

所述通道选择模块根据所述时钟信号输出通道选择信号，所述通道选择模块输出所述通道选择信号给所述测试模块和所述修调模块，所述测试模块根据所述通道选择信号确定测试通道，所述修调模块根据所述通道选择信号确定修调通道；

在所述复用管脚悬空的情况下，所述测试模块根据所述测试通道获取待测试参数项，输出所述待测试参数项的测试结果至所述复用管脚；

根据所述测试结果，在与所述修调通道对应的修调位需要修调的情况下，在所述复用管脚输入修调指示信号。

2.根据权利要求1所述的管脚复用的测试修调系统，其特征在于，所述模式选择模块还根据所述复用管脚的输入信号输出工作模式选择信号到所述芯片：

在所述复用管脚输入接地信号的情况下，触发所述芯片反激式Flyback工作状态；

在所述复用管脚悬空的情况下，触发所述芯片降压式Buck工作状态；

在所述复用管脚输入脉冲信号的状态下，触发所述芯片的测试修调状态。

3.根据权利要求1所述的管脚复用的测试修调系统，其特征在于，所述模式选择模块还用于根据所述复用管脚的输入信号输出第一测试修调使能信号给所述通道选择模块，输出第二测试修调使能信号给所述修调模块；

在所述复用管脚输入脉冲信号的情况下，所述第一测试修调使能信号指示所述通道选择模块根据所述时钟信号输出通道选择信号，所述第二测试修调使能信号指示所述修调模块进入修调模式；

在所述复用管脚悬空的情况下，所述第一测试修调使能信号指示所述通道选择模块处于非通道选择模式，所述第二测试修调使能信号指示所述修调模块处于非修调模式。

4.根据权利要求3所述的管脚复用的测试修调系统，其特征在于，所述修调模块输入芯片使能信号，在所述芯片使能信号和所述第二测试修调使能信号均指示所述修调模块处于修调模式的情况下，所述修调模块根据所述测试结果对所述修调位进行修调；所述修调模块输出修调后的逻辑信号。

5.根据权利要求1所述的管脚复用的测试修调系统，其特征在于，所述测试模块还输入芯片的所述待测试参数项以及所述待测试参数项预设的测试通道，根据所述测试通道，输出与所述测试通道对应的所述待测试参数项的测试结果。

6.一种管脚复用的测试修调方法，其特征在于，所述方法包括：

在复用管脚输入脉冲信号的情况下，模式选择模块从所述复用管脚接受所述脉冲信号，输出时钟信号，并将所述时钟信号发送给通道选择模块；

所述通道选择模块根据所述时钟信号选通测试通道和修调通道；

在所述复用管脚悬空的情况下，测试模块获取所述测试通道的测试结果并将所述测试结果反馈至所述复用管脚；

根据所述测试结果，在所述修调通道对应的修调位需要修调的情况下，从所述复用管脚输入修调指示信号，触发修调模块将所述修调位熔丝烧写。

7.根据权利要求6所述的管脚复用的测试修调方法，其特征在于，所述通道选择模块根据所述时钟信号选通测试通道和修调通道包括：

所述的通道选择模块，通过输入所述时钟信号来检测所述复用管脚输入的脉冲个数，根据输入脉冲个数选通所述测试通道和所述修调通道。