[发明专利]一种低频数字电路综合测试系统及其测试方法

说明书

本发明公开了一种低频数字电路综合测试系统及其测试方法，包括测试交互单元、数据处理系统、被测板测试单元和标准板测试单元，数据处理系统分别与测试交互单元、被测板测试单元和标准板测试单元实现双向电性连接，数据处理系统通过光纤网络或4G无线网络与联网大数据库实现双向连接，本发明涉及电路测试系统技术领域。该低频数字电路综合测试系统及其测试方法，可实现对大批量和大测试容量的电路板测试时，仍然能够快速进行数据处理，大大提高了测试效率，测试误差小，保证了测试结果的准确度，同时大大缩短了数据分析时间，提高了数据处理效率，无需测试人员花费大量时间进行等待，从而大大方便了测试人员的数据处理工作。

技术领域

本发明涉及电路测试系统技术领域，具体为一种低频数字电路综合测试系统及其测试方法。

背景技术

数字电路是指用数字信号完成对数字量进行算术运算和逻辑运算的电路称为数字电路，或数字系统，由于它具有逻辑运算和逻辑处理功能，所以又称数字逻辑电路，根据不同行业和领域的不同需求，低频数字电路测试对象往往不尽相同，导致数字电路对测试系统的性能需求也不同，例如，直流变频空调中使用的小规模简单的数字电路要求测试系统满足通道数和较低的测试频率要求即可；大型雷达基站由于对数据处理速度要求较高，相关电子设备对于测试系统的通道数、测试频率和可靠性的要求很高，往往达到上百通道和数十兆赫兹；现代战机的机载设备还有对不同航空通信总线的测试需求，由此可见，设计一种高性能、高可靠性、多功能、低成本的数字电路测试系统是十分必要的。

参考中国专利申请号为CN201610082893.8的一种数字阵列雷达DAM接收数字电路测试系统，通过设计的测试系统能够并行测试接收数字电路的多个通道的信噪比、噪声系数、通道隔离度以及通道间幅相一致性等指标，极大地提高了接收数字电路测试效率，并实现快速、准确的测试，然而该参考专利存在以下不足：

1)、在面对大批量和大测试容量的电路板测试时，速度仍然较慢，且测试效率较低，不能实现通过先根据测试需求建立针对性的故障模型并将故障模型直接载入到电路板内，来进行大批量和大容量电路板的测试，无法达到通过节省大量的测试向量生成时间，来缩短测试时间的目的，从而给电路板的测试带来了极大大不便。

2)、测试误差仍然较大，不能减小在测试过程中人为因素造成的测试误差，不能实现通过采用标准板与被测板同时安装测试的方式，来解决由于人为测试误差导致的测试结果不精确的问题。

3)、数据分析时间长，效率低，不能实现通过提高数据分析的智能化程度，来使测试数据能够更加快速和精确的进行分析，无法达到通过采用自适应处理算法，来完成多种无需数据进行有序匹配处理的目的，需要测试人员花费大量时间进行等待，从而给测试人员的数据处理工作带来极大的不便。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种低频数字电路综合测试系统及其测试方法，解决了现有的测试系统在面对大批量和大测试容量的电路板测试时，速度仍然较慢，且测试效率较低，测试误差仍然较大，不能减小在测试过程中人为因素造成的测试误差，数据分析时间长，且处理效率低的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种低频数字电路综合测试系统，包括测试交互单元、数据处理系统、被测板测试单元和标准板测试单元，所述数据处理系统分别与测试交互单元、被测板测试单元和标准板测试单元实现双向电性连接，且数据处理系统通过光纤网络或4G无线网络与联网大数据库实现双向连接，所述数据处理系统通过无线通讯模块与远程测试监控终端实现无线双向连接，所述数据处理系统包括中央处理模块、测试故障建模单元、测试向量生成模块、测试向量加载模块和测试数据对比分析单元，所述中央处理模块分别与测试向量生成模块和测试数据对比分析单元实现双向电性连接，且中央处理模块的输出端与测试故障建模单元的输入端电性连接，所述测试向量加载模块的输出端与中央处理模块的输入端电性连接。