[发明专利]一种低频数字电路综合测试系统及其测试方法

权利要求书

1.一种低频数字电路综合测试系统，包括测试交互单元(1)、数据处理系统(2)、被测板测试单元(3)和标准板测试单元(4)，所述数据处理系统(2)分别与测试交互单元(1)、被测板测试单元(3)和标准板测试单元(4)实现双向电性连接，且数据处理系统(2)通过光纤网络或4G无线网络与联网大数据库(5)实现双向连接，所述数据处理系统(2)通过无线通讯模块(6)与远程测试监控终端(7)实现无线双向连接，其特征在于：所述数据处理系统(2)包括中央处理模块(21)、测试故障建模单元(22)、测试向量生成模块(23)、测试向量加载模块(24)和测试数据对比分析单元(25)，所述中央处理模块(21)分别与测试向量生成模块(23)和测试数据对比分析单元(25)实现双向电性连接，且中央处理模块(21)的输出端与测试故障建模单元(22)的输入端电性连接，所述测试向量加载模块(24)的输出端与中央处理模块(21)的输入端电性连接；

所述测试数据对比分析单元(25)包括微处理模块(251)、数据收发模块(252)、自适应分析算法库模块(253)、自适应算法提取模块(254)、测试数据自适应分析单元(255)、多标准数据匹配分析模块(256)、标准数据优化模块(257)和数据实时更新模块(258)，所述微处理模块(251)分别与数据收发模块(252)、自适应分析算法库模块(253)、自适应算法提取模块(254)、测试数据自适应分析单元(255)、多标准数据匹配分析模块(256)、标准数据优化模块(257)和数据实时更新模块(258)实现双向电性连接；

低频数字电路综合测试系统的测试方法，具体包括以下步骤：

S1、用户的登录及被测板的安装：首先将通过测试交互单元(1)内的用户登录模块(11)进行登录操作，登录成功后，将被测电路板和标准电路板分别安装于被测板测试单元(3)和标准板测试单元(4)上，然后通过操作测试交互单元(1)使中央处理模块(21)控制测试故障建模单元(22)进行故障建模处理；

S2、测试故障建模：先通过测试故障建模单元(22)内的故障类型归纳模块(221)对该被测电路板所要测试的故障类型进行信息归纳整理，再通过故障逻辑图绘制模块(222)绘制出故障建模逻辑流程图，然后通过故障算法编辑模块(223)根据绘制的逻辑图编辑或从联网大数据库(5)导入与之相对应的处理算法，之后通过故障模型生成模块(224)将编辑的算法进行查错生成处理，生成故障模型后通过故障模型测试模块(225)对生成的故障模型进行测试处理；

S3、故障建模及测试向量的加载：将步骤S2测试成功后的故障模型传送至测试向量生成模块(23)内通过向故障模型内导入故障数据，从而生成的故障索引代码，该索引代码即为测试向量，然后将生成的测试向量传送至测试向量加载模块(24)内，再通过中央处理模块(21)分别加载到步骤S1安装好的被测电路板和标准电路板上，来进行故障测试；

S4、标准测试数据优化处理：经过步骤S3测试的数据传送至测试数据对比分析单元(25)内，中央处理模块(21)控制测试数据对比分析单元(25)内的微处理模块(251)控制数据收发模块(252)接收测试数据，并将接收的被测板数据传送至测试数据自适应分析单元(255)内，然后将标准板测试数据传送至多标准数据匹配分析模块(256)内先进行标准板故障测试结果与故障类型匹配处理，通过标准板数据优化模块(257)进行标准化处理，再将优化后的标准故障测试数据传送至测试数据自适应分析单元(255)内进行分析处理；

S5、测试数据的对比分析：此时测试数据自适应分析单元(255)内的被测数据提取模块(2551)和标准数据提取模块(2552)分别提取被测数据和标准测试数据，并将提取的数据传输至匹配类型数据对比模块(2553)内，此时匹配类型数据对比模块(2553)通过自适应算法提取模块(254)向自适应分析算法库模块(253)内提取粒子群分析算法进行数据对比分析处理，对比后通过差值范围分析模块(2554)分析被测值与标准值之间的差值是否超出标准差值范围，若超出该范围，则判定该被测电路板为故障板，并通过故障类型判定模块(2555)判定故障类型，同样操作能够同时对多组被测板同时进行测试分析；

S6、测试结果的查阅及测试模型的修正：将步骤S5得到的测试结果通过数据收发模块(252)发送至中央处理模块(251)内，然后通过中央处理膜(251)发送至测试交互单元(1)或通过无线通讯模块(6)无线传送至远程测试监控终端(7)内，来供测试人员进行查看，测试交互单元(1)内的测试数据录入模块(12)接收到测试数据后通过数据显示模块(13)进行显示，当测试人员需要对测试模型进行更改时，通过测试模型修订模块(14)内的修正算法对测试模型进行修订，然后通过测试模型验证模块(15)进行测试处理，测试合格后通过测试模型发送模块(16)将修正的模型传送至数据处理系统(2)内进行测试使用。