[发明专利]一种利用离子束溅射沉积获得单晶氮化硼薄膜的方法在审
申请号: | 202010063893.X | 申请日: | 2020-01-20 |
公开(公告)号: | CN111139526A | 公开(公告)日: | 2020-05-12 |
发明(设计)人: | 兰伟;马凌霄;董晨浩;张兴旺 | 申请(专利权)人: | 兰州大学 |
主分类号: | C30B29/40 | 分类号: | C30B29/40;C30B23/02;C30B33/02 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 王欢 |
地址: | 730000 甘肃*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 利用 离子束 溅射 沉积 获得 氮化 薄膜 方法 | ||
本发明涉及二维层状材料研究领域,具体涉及一种利用离子束溅射沉积获得单晶氮化硼薄膜的方法器。包括:使用丙酮、乙醇和去离子水依次超声清洗单晶衬底;将清洗的单晶衬底浸入氢氟酸溶液中处理;将高纯Ni靶安置在直流磁控溅射仪的靶位上,在单晶衬底上外延生长Ni(111)取向的薄膜;将镍/单晶衬底固定在样品托上,置入离子束溅射沉积设备的生长腔室中,通过氢气和氩气处理,进行薄膜生长;将生长的薄膜冷却,获得大尺寸单晶氮化硼薄膜。
技术领域
本发明涉及二维层状材料研究领域,主要应用于绝缘、导热、深紫外发光、栅介质层、微波屏蔽等领域,具体涉及一种利用离子束溅射沉积获得单晶氮化硼薄膜的方法。
背景技术
六方氮化硼(h-BN)薄膜作为二维材料领域中的一种重要材料,因其具有极高的面内弹性模量、原子级平滑的表面、宽禁带(5.9eV)、绝缘性好、高温稳定性、化学稳定性和导热性高等特点,有望广泛地应用到绝缘衬底、深紫外发光、电介质材料、微波屏蔽等领域。现常用化学气相沉积(CVD)技术制备h-BN二维原子晶体,但由于前驱体多种多样,生长机制复杂不明,产物中存在大量缺陷,严重影响薄膜的性能,并且所使用的有机前驱体价格昂贵且多为剧毒物质,存在副产物多、稳定性差等缺点,不利于实现大规模生产。本发明就h-BN薄膜生长过程复杂、前驱体不稳定且可控性差的缺点做出改善。
发明内容
一种利用离子束溅射沉积获得单晶氮化硼薄膜的方法,通过本发明可以得到一种高质量、低成本的大尺寸单晶氮化硼薄膜,其尺寸能够得到明显改善,
具体方案如下所述:
一种利用离子束溅射沉积获得单晶氮化硼薄膜的方法,包括:
S1.使用丙酮、乙醇和去离子水依次超声清洗单晶衬底;
S2.将清洗的单晶衬底浸入氢氟酸溶液中处理;
S3.将高纯Ni靶安置在直流磁控溅射仪的靶位上,在单晶衬底上外延生长Ni(111)取向的薄膜;
S4.将镍/单晶衬底固定在样品托上,置入离子束溅射沉积设备的生长腔室中,于氢气氛围中处理薄膜,于氩气氛围中进行薄膜生长;
S5.将生长的薄膜冷却,获得大尺寸单晶氮化硼薄膜。
所述S1中,使用丙酮、乙醇和去离子水依次超声清洗时,每次清洗结束后用去离子水冲洗,最后干燥处理。
所述S2中单晶衬底浸入氢氟酸溶液中20s~30s后,用去离子水冲洗后,最后将单晶衬底干燥处理。
所述S3中,高纯Ni靶的纯度为99.99%。
所述S4还包括:
S401.将镍/单晶衬底固定在样品托上,置入离子束溅射沉积设备的生长腔室中,将腔室真空抽至3.75×10-3mTor;
S402.向反应腔室中通入氢气,镍/单晶衬底升温后退火;
S403.关闭氢气阀门,通入氩气,待气压稳定后,开启炉盘旋转和主离子源,产生Ar离子;
S404.设定溅射偏压、加速电压和阳极电压,调节阴极灯丝电流,进行薄膜生长。
所述S5中,将生长的薄膜在氩气中自然冷却至室温。
本发明的有益效果为:制备h-BN薄膜简易可控,可以通过调节沉积条件来有效地控制薄膜生长;制备过程中有效改善了原有技术高成本且剧毒的缺点,更加环保;制备的薄膜尺寸较大,薄膜层数可控,可以实现大面积h-BN薄膜的制备。
附图说明
图1是大尺寸h-BN单晶薄膜的制备过程示意图;
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