[发明专利]一种星载电离层光度计有效

专利信息
申请号: 202010046507.6 申请日: 2020-01-16
公开(公告)号: CN111238637B 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: 付建国;付利平;彭如意;贾楠;王天放 申请(专利权)人: 中国科学院国家空间科学中心
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42;G01J1/02
代理公司: 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 代理人: 陈琳琳;武玥
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 电离层 光度计
【说明书】:

发明属于空间光电探测技术领域,具体涉及一种星载电离层光度计,其包括:所述星载电离层光度计包括:方形箱体(1)和多个探测通道;方形箱体(1)上并列设置多个探测通道;所述探测通道包括:第一遮光筒(2)、反射镜组件(3)、探测器组件(4)、电子学电路板(5)和第二遮光筒(16);第一遮光筒(2)设置在方形箱体(1)上,且垂直于方形箱体(1);反射镜组件(3)、探测器组件(4)、电子学电路板(5)均安装在方形箱体(1)内部,反射镜组件(3)位于第一遮光筒(2)的正下方,反射镜组件(3)后设置探测器组件(4),并通过位于二者之间的第二遮光筒(16)将反射镜组件(3)与探测器组件(4)连接在一起;电子学电路板(5)设置探测器组件(4)的一侧。

技术领域

本发明属于空间光电探测技术领域,具体涉及一种星载电离层光度计。

背景技术

电离层是空间天气中的一个重要区域,也是人类空间活动最重要的区域之一,其时空变化对卫星导航定位、地空无线电通信等系统电波信号传播有着重要影响,对其状态和变化的监测预警是空间天气业务中的重要组成部分。

电离层光度计作为空间天气仪器载荷之一,主要用于测量电离层远紫外气辉,通过反演获得电离层表征参数。但是,现有的电离层光度计存在灵敏度低、低杂散光抑制能力、市场范围窄、大大加长了在轨重复周期的缺陷。

发明内容

本发明的目的在于,为解决现的电离层光度计存在上述缺陷,本发明提出了一种星载电离层光度计,该星载电离层光度计具有高灵敏度、高杂散光抑制能力的特点,并具有更宽视场范围,极大地缩短了在轨重复周期。

为了实现上述目的,本发明提出了一种星载电离层光度计,其包括:方形箱体和多个探测通道;方形箱体上并列设置多个探测通道;

所述探测通道包括:第一遮光筒、反射镜组件、探测器组件、电子学电路板和第二遮光筒;

第一遮光筒设置在方形箱体上,且垂直于方形箱体;反射镜组件、探测器组件和电子学电路板均安装在方形箱体内部,反射镜组件位于第一遮光筒的正下方,反射镜组件后设置探测器组件,并通过位于二者之间的第二遮光筒将反射镜组件与探测器组件连接在一起;电子学电路板设置探测器组件的一侧。

作为上述技术方案的改进之一,所述方形箱体包括:上板、下板、左板、右板、前板和后板;上板和下板相对放置,左板和右板相对放置,前板和后板相对放置,上述上板、下板、左板、右板、前板和后板组合在一起形成方形箱体结构。

作为上述技术方案的改进之一,所述第一遮光筒安装于方形箱体的上板之上,所述第一遮光筒内壁设有多重光阑。

作为上述技术方案的改进之一,所述反射镜组件包括:镜座、离轴抛物面反射镜、压片、光阑板;

所述镜座的斜面上安装离轴抛物面反射镜,并通过压片盖在离轴抛物面反射镜上,通过螺钉固定在镜座上;镜座的顶部开有圆孔,并固定在离轴抛物面反射镜之上,且在镜座的侧面安装光阑板,光阑板的中部开有圆孔,在该圆孔处安装第二遮光筒。

作为上述技术方案的改进之一,所述镜座为长方体框架结构,该长方体框架结构的内部设置直角三角形框架,且其斜面上开有不规则形状凹槽,用于安装离轴抛物面反射镜,且该不规则形状凹槽的四周分别增设小孔,用于注入橡胶,长方体框架结构的两侧分别增设加强筋,用于提高强度。

作为上述技术方案的改进之一,所述离轴抛物面反射镜,用于将电离层气辉或极光成像到探测器组件上。离轴抛物面反射镜的离轴角为90度。

作为上述技术方案的改进之一,所述探测器组件包括:底座、光电倍增管、管座、聚四氟乙烯片、左压片、分压电路板、左盖板、凸台、右盖片、光阑、氟化钡窗口、压圈、前放电路板、上屏蔽盒、下屏蔽盒和绝缘片;

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