[发明专利]晶片的干燥装置、干燥方法、清洗系统及清洗干燥装置有效
申请号: | 202010046129.1 | 申请日: | 2020-01-16 |
公开(公告)号: | CN111219953B | 公开(公告)日: | 2022-04-01 |
发明(设计)人: | 覃玉婷;徐伟;周文斌 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | F26B5/02 | 分类号: | F26B5/02;F26B11/18;H01L21/67;B08B3/12 |
代理公司: | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人: | 杨思雨 |
地址: | 430074 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶片 干燥 装置 方法 清洗 系统 | ||
1.一种晶片的干燥装置,其特征在于,包括:
腔室,具有进气口和出气口;
转盘,位于所述腔室内,所述转盘的侧壁和底部形成与所述腔室连通的圆柱形空腔,且所述侧壁适于固定晶片,所述转盘可绕其轴线旋转;以及
第一换能器,连接至所述转盘,适于根据超声频电源提供超声波,并在所述转盘转动时将所述超声波辐射至所述晶片,以使所述晶片孔内的水分子振动,
其中,所述晶片具有开孔的表面被配置为背对所述转盘的所述轴线,
在所述转盘转动时,清洗气体由所述进气口流入所述腔室,并经由所述出气口排出,以将所述水分子带出所述腔室。
2.根据权利要求1所述的干燥装置,其特征在于,还包括:
真空泵,连接至所述腔室的所述出气口。
3.根据权利要求2所述的干燥装置,其特征在于,所述真空泵经由出气管道连接至所述出气口,所述清洗气体经由进气管道通入所述腔室。
4.根据权利要求3所述的干燥装置,其特征在于,还包括:加热器,连接至所述进气管道,以加热所述清洗气体。
5.根据权利要求1所述的干燥装置,其特征在于,所述转盘的所述侧壁上具有多个等间距分布的固定装置,所述固定装置适于固定所述晶片。
6.一种晶片的干燥方法,其特征在于,包括:
将晶片固定至转盘的侧壁,所述转盘的侧壁和底部形成与腔室连通的圆柱形空腔,且所述转盘可绕其轴线旋转,所述腔室具有进气口和出气口,所述晶片具有开孔的表面被配置为背对所述转盘的轴线;
绕轴线旋转所述转盘;
根据超声频电源提供超声波,并在所述转盘转动时将所述超声波辐射至所述晶片,以使所述晶片孔内的水分子振动;以及
在所述转盘转动时,清洗气体由所述进气口流入所述腔室,并经由所述出气口排出,以将所述水分子带出所述腔室。
7.根据权利要求6所述的干燥方法,其特征在于,还包括:经由所述腔室的进气口向所述腔室内提供清洗气体,并经由所述腔室的出气口抽取所述清洗气体。
8.根据权利要求7所述的干燥方法,其特征在于,还包括:在所述清洗气体通入所述腔室内之前,加热所述清洗气体。
9.根据权利要求6所述的干燥方法,其特征在于,还包括:对所述腔室抽真空。
10.一种晶片的清洗系统,其特征在于,包括:
清洗装置,适于清洗晶片;以及
如权利要求1至5任一项所述的干燥装置,适于对所述晶片进行干燥。
11.根据权利要求10所述的清洗系统,其特征在于,所述清洗装置为超声波清洗装置,所述超声波清洗装置包括:
清洗槽,适于容纳清洗液和所述晶片;以及
第二换能器,连接至所述清洗槽,适于根据超声频电源提供超声波,并将所述超声波辐射至所述清洗液,以使所述清洗液在所述晶片的开孔中产生微气泡。
12.一种晶片的清洗干燥装置,其特征在于,包括:
腔室,具有进气口和出气口;
转筒,位于所述腔室内,所述转筒可绕其轴线旋转;以及
换能器,连接至所述转筒,适于根据超声频电源向所述转筒提供超声波,
其中,在清洗模式中,所述转筒适于容纳清洗液,以清洗晶片,
在干燥模式中,所述转筒底部和侧壁形成与所述腔室连通的圆柱形空腔,其侧壁适于固定所述晶片,所述换能器在所述转筒转动时提供所述超声波,且所述晶片具有开孔的表面被配置为背对所述转筒的所述轴线,
在所述转筒转动时,清洗气体由所述进气口流入所述腔室,并经由所述出气口排出,以将水分子带出所述腔室。
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