[发明专利]元器件失效率修正方法、装置、计算机设备及存储介质

说明书

本申请涉及一种元器件失效率修正方法、装置、计算机设备及存储介质，所述元器件失效率修正方法通过所述修正累积工作时长对所述待测试元器件组的历史失效率进行修正。在本申请实施例中，通过利用所述修正累积工作时长，在所述元器件的历史失效率基础上，通过所述修正累积工作时长引入所述元器件的真实使用环境或者预设使用环境，基于所述历史失效率，将新的环境条件引入至所述元器件失效率的预计过程中，从而使得得出的所述元器件失效率与真实值更加接近。解决了现有技术中存在的传统数理统计预计模型得到的失效率与实际失效率具有较大的预计偏差，达到了提高所述元器件失效率预计结果准确性的技术效果。

技术领域

本申请涉及元器件可靠性预计技术领域，特别是涉及一种元器件失效率修正方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

可靠性预计是元器件可靠性设计的主要工作项目之一，可靠性预计对预估元器件可靠性水平、定位薄弱环节、开展可靠性试验等的重要的支撑作用。可靠性预计实施的基础是建立元器件失效率预计模型，失效率预计模型通常由各种预计标准、手册等提供。

目前应用较多的失效率预计模型是传统数理统计预计模型，在传统数理统计预计模型中元器件失效率由基本失效率连乘多个影响系数得到。传统数理统计预计模型中不同影响系数在连乘过程中会协同放大或缩小，但在实际应用中，元器件失效可能是由多种失效机理诱发，不同的失效机理对不同应力的敏感性不同，失效部位也有不尽相同。因此，通过传统数理统计预计模型得到的失效率与实际失效率具有较大的预计偏差。

发明内容

基于此，有必要针对传统数理统计预计模型得到的失效率与实际失效率具有较大的预计偏差的问题，提供一种元器件失效率修正方法、装置、计算机设备及存储介质。

一种元器件失效率修正方法，所述方法包括：

获取待测试元器件组的历史失效率，其中，所述历史失效率符合伽马分布；

根据所述历史失效率确定所述伽马分布的形状参数和尺度参数；

确定所述待测试元器件组中失效元器件的数量，得到失效数量；

确定所述待测试元器件组的修正累积工作时长，所述修正累积工作时长用于表征修正后所述待测试元器件组中所有元器件实际工作时长的总和；

根据所述形状参数、所述尺度参数、所述失效数量和所述修正累积工作时长确定所述待测试元器件组的失效率。

在其中一个实施例中，所述根据所述形状参数、所述尺度参数、所述失效数量和所述修正累积工作时长确定所述待测试元器件组的失效率，包括：

计算所述形状参数和所述失效数量之和，得到第一累计和；

计算所述尺度参数和所述修正累积工作时长之和，得到第二累计和；

计算所述第一累计和与所述第二累计和的比值，得到所述待测试元器件组的失效率。

在其中一个实施例中，所述根据所述形状参数、所述尺度参数、所述失效数量和所述修正累积工作时长确定所述待测试元器件组的失效率，包括：

通过公式(1)确定所述待测试元器件组的失效率：

其中，E(λ')表示所述待测试元器件组的失效率，a表示所述形状参数，b表示所述尺度参数，r表示所述失效数量，T表示所述修正累积工作时长。

在其中一个实施例中，所述确定所述待测试元器件组的修正累积工作时长，包括：

确定所述待测试元器件组的环境参数和参考条件，所述环境参数用于表征所述待测试元器件组的预设使用环境；

根据所述环境参数和所述参考条件确定环境系数；