[发明专利]元器件失效率修正方法、装置、计算机设备及存储介质

权利要求书

1.一种元器件失效率修正方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待测试元器件组的历史失效率，其中，所述历史失效率符合伽马分布；

根据所述历史失效率确定所述伽马分布的形状参数和尺度参数；

确定所述待测试元器件组中失效元器件的数量，得到失效数量；

确定所述待测试元器件组的修正累积工作时长，所述修正累积工作时长用于表征修正后所述待测试元器件组中所有元器件实际工作时长的总和；

根据所述形状参数、所述尺度参数、所述失效数量和所述修正累积工作时长确定所述待测试元器件组的失效率；

其中，所述根据所述形状参数、所述尺度参数、所述失效数量和所述修正累积工作时长确定所述待测试元器件组的失效率，包括：

计算所述形状参数和所述失效数量之和，得到第一累计和；

计算所述尺度参数和所述修正累积工作时长之和，得到第二累计和；

计算所述第一累计和与所述第二累计和的比值，得到所述待测试元器件组的失效率。

2.根据权利要求1所述的元器件失效率修正方法，其特征在于，所述确定所述待测试元器件组的修正累积工作时长，包括：

确定所述待测试元器件组的环境参数和参考条件，所述环境参数用于表征所述待测试元器件组的预设使用环境；

根据所述环境参数和所述参考条件确定环境系数；

根据所述元器件类型确定所述失效元器件在不同应力下的加速系数，得到多个加速系数；

根据所述环境系数和所述多个加速系数确定转化系数；

获取所述待测试元器件组中所述失效元器件的第一实际累积工作时长，所述第一实际累积工作时长用于表征所述失效元器件原始工作时长的总和；

获取所述待测试元器件组中未失效元器件的第二实际累积工作时长和所述未失效元器件的未失效数量，所述第二实际累积工作时长用于表征所述未失效元器件原始工作时长的总和；

根据所述失效数量、所述第一实际累积工作时长、所述未失效数量、所述第二实际累积工作时长和所述转化系数确定所述修正累积工作时长；

所述根据所述失效数量、所述第一实际累积工作时长、所述未失效数量、所述第二实际累积工作时长和所述转化系数确定所述修正累积工作时长，包括：

通过公式（2）确定所述修正累积工作时长：

（2）

其中，T表示所述修正累积工作时长，CF表示所述转化系数，r表示所述失效数量，t₁表示所述第一实际累积工作时长，R表示所述未失效数量，t₂表示所述第二实际累积工作时长；

所述根据所述环境系数和所述多个加速系数确定转化系数，包括：

通过公式（3）确定所述转化系数：

（3）

其中，CF表示所述转化系数，CF_E表示所述环境系数，AF_i表示所述失效元器件在第i种诱发应力下的加速系数；

所述根据所述环境参数和所述参考条件确定环境系数，包括：

通过公式（4）确定所述环境系数：

（4）

其中，CF_E表示所述环境系数，π_E表示在所述环境参数下环境系数的取值，π_E0表示在参考条件下环境系数的取值。

3.根据权利要求1所述的元器件失效率修正方法，其特征在于，所述确定所述待测试元器件组中失效元器件的数量，得到失效数量，包括：

确定所述待测试元器件组中的所述失效元器件；

确定所述失效元器件中的诱发失效应力类型；

对所述失效元器件中的诱发失效应力进行筛检，以得到所述失效数量；

其中，所述对所述失效元器件中的诱发失效应力进行筛检，以得到所述失效数量，包括：去除失效的所述元器件；统计所述失效元器件中和预设诱发应力类型相同的失效元器件的数量，从而得到所述失效数量。