[发明专利]物体尺寸测量方法、装置和设备有效
申请号: | 202010041570.0 | 申请日: | 2020-01-15 |
公开(公告)号: | CN112254633B | 公开(公告)日: | 2023-05-30 |
发明(设计)人: | 李伟伟;姜婷 | 申请(专利权)人: | 北京京东振世信息技术有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/04;G01B11/06 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 曹蓓;许蓓 |
地址: | 100086 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 物体 尺寸 测量方法 装置 设备 | ||
1.一种物体尺寸测量方法,包括:
将预定参照物附着于被测物体的预定位置;
获取被测物体的至少两个表面的现场图像,被采集图像的两个表面基本相互垂直,所述现场图像中包括两个预定参照物的图像,所述两个预定参照物附着于所述被测物体同一个表面的斜对角的顶点区域;
根据预定参照物的尺寸和所述预定参照物在所述被测物体的现场图像中的尺寸,确定所述被测物体的尺寸,包括:
确定所述两个预定参照物在所述现场图像中的像素坐标;
从所述现场图像中,提取以所述被测物体的边沿为边界的图像区域,将提取的图像区域矫正为预定像素尺寸的目标图像;
根据所述两个预定参照物在所述现场图像中的像素坐标,利用带参数的八点透视算法,确定所述目标图像中预定参照物的像素尺寸;
根据所述预定参照物的尺寸,所述目标图像中预定参照物的像素尺寸和所述目标图像的所述预定像素尺寸,确定所述被测物体的尺寸。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述确定所述被测物体的尺寸包括:
根据获取的第一图像,确定被测物体的第一边长和第二边长;
根据获取的第二图像,确定被测物体的第一边长和第三边长;
通过将所述第一边长、第二边长和第三边长相乘,确定被测物体的体积。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述将提取的图像区域矫正为预定像素尺寸的目标图像包括:
获取第一参照物、第二参照物的顶点像素坐标,其中,所述参照物为矩形,每个参照物的一个顶点及与顶点相交的两条边,分别与被测物体的一个顶点及与顶点相交的两条边对齐。
4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述第一参照物为4x4棋盘格图片,所述第二参照物为5x5棋盘格图片。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,所述确定所述预定参照物在所述现场图像中的像素坐标包括:
检测参照物中角点,确定角点坐标,其中,所述角点为四个格的交点;
提取四个外围角点的坐标;
根据外围角点的坐标,确定从标准的参照物图片到所述现场图像的透视变换矩阵;
基于所述透视变换矩阵确定所述第一参照物、第二参照物的顶点的像素坐标。
6.根据权利要求1~5任意一项所述的方法,其中,
在货物揽收过程中,执行测量物体体积的操作。
7.一种物体体积测量装置,包括:
图像采集单元,被配置为获取被测物体的至少两个表面的现场图像,被采集图像的两个表面基本相互垂直,其中,预定参照物附着于被测物体的预定位置,且采集的现场图像中包括两个预定参照物,所述两个预定参照物附着于所述被测物体同一个表面的斜对角的顶点区域;
运算单元,被配置为根据预定参照物的尺寸和所述预定参照物在所述被测物体的现场图像中的尺寸,确定所述被测物体的尺寸,包括:
确定所述两个预定参照物在所述现场图像中的像素坐标;
从所述现场图像中,提取以所述被测物体的边沿为边界的图像区域,将提取的图像区域矫正为预定像素尺寸的目标图像;
根据所述两个预定参照物在所述现场图像中的像素坐标,利用带参数的八点透视算法,确定所述目标图像中预定参照物的像素尺寸;
根据所述预定参照物的尺寸,所述目标图像中预定参照物的像素尺寸和所述目标图像的所述预定像素尺寸,确定所述被测物体的尺寸。
8.一种物体尺寸测量装置,包括:
存储器;以及
耦接至所述存储器的处理器,所述处理器被配置为基于存储在所述存储器的指令执行如权利要求1至6任一项所述的方法。
9.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序指令,该指令被处理器执行时实现权利要求1至6任意一项所述的方法的步骤。
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