[发明专利]一种用于CMOS图像传感器单粒子翻转效应的测试方法

权利要求书

1.一种用于CMOS图像传感器单粒子翻转效应的测试方法，其特征在于，该方法所涉及的测试系统是由PC机和CMOS图像传感器测试板组成，其中CMOS图像传感器测试板由图像和数据接口、现场可编程门阵列、CMOS图像传感器和外围电路组成，在PC机中设置有图像成像软件和寄存器读写软件，PC机中图像采集卡通过数据线与CMOS图像传感器测试板中的图像和数据接口相连，现场可编程门阵列将图像数据映射成标准图像格式传递给PC机，电源通过外围电路为CMOS图像传感器和现场可编程门阵列供电，寄存器读写软件可读写CMOS图像传感器内部寄存器值，同时将读出值和初值进行比较，判定该寄存器是否发生翻转，并自动统计寄存器发生翻转次数，具体操作按下列步骤进行：

a、首先安装连接好CMOS图像传感器测试板，然后通过图像和数据接口给内部寄存器写入初值，使得CMOS图像传感器正常工作；

b、粒子辐照开始后，实时在线采集暗场图像，并通过图像和数据传输线传输到PC机图像成像软件上，观察图像是否异常；同时，通过寄存器读写软件实时在线读取CMOS图像传感器内部寄存器值，并与已写入寄存器初值进行比较；

c、如果比较过程中由某寄存器的值与其初值不相等，则判定该寄存器发生翻转；

d、接着对每一个发生翻转寄存器进行翻转次数单独统计，辐照结束后累加所有寄存器翻转次数作为器件整体翻转次数；

e、按时间标准挑选出翻转的寄存器和其翻转后采集图像，建立寄存器翻转和异常图像对应关系；

f、最后依据单个寄存器翻转次数和寄存器整体翻转次数，评估该CMOS图像传感器单个寄存器和整个器件的翻转截面。