[发明专利]一种晶圆湿处理设备在审
申请号: | 202010030676.0 | 申请日: | 2020-01-13 |
公开(公告)号: | CN111211073A | 公开(公告)日: | 2020-05-29 |
发明(设计)人: | 商帅 | 申请(专利权)人: | 商帅 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 264400 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 晶圆湿 处理 设备 | ||
本发明提供一种晶圆湿处理设备,其结构包括防护罩结构、控制主机、底脚、控制面板、固定结构、电机,本发明通过设置夹紧爪结构,将晶圆放置到放置板架上方,在将防护板往内推动,使得嵌入支板嵌入到连接孔内,同时,拉动上拉板往上移动,使得缓冲弹簧被压缩,使得压板上移,将其调适到合适的位置,将外侧的嵌入杆在旋紧嵌入孔上,对嵌入支板进行限制,且松开上拉板,使得压板在缓冲弹簧带动下对晶圆进行固定,且在缓冲球与压板的作用下,能够有效的避免晶圆完全的贴合于固定支板上,从而能够有效的避免晶圆需要经过两次的对其进行甩干,效率较低,通过设置防护罩结构,从而能够有效的避免晶圆在甩干时,溶液溅到附近工作人员的身上。
技术领域
本发明涉及晶圆处理技术领域,具体为一种晶圆湿处理设备。
背景技术
在半导体晶圆的工艺中,需要对半导体晶圆的元件设置面进行多道处理步骤,包含蚀刻、清洗等湿式处理程序,以此来保证晶圆表面的洁净度,避免晶圆在进行下一步骤时,表面的污物影响到其加工的进程,但是现有技术具有以下缺陷:
在对晶圆进行固定时,以往都是采用底面完全贴合在固定支架上对晶圆进行甩干,致使在对晶圆进行甩干时,底面的晶圆上的溶液无法被甩干,从而需要将其反向过来再次的进行甩干,同时由于溶液是化学物质,由于在对晶圆进行甩干时,没有对其很好的进行密封,溶液使甩出的溶液溅到附近的工作人员的身上。
本发明内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足,本发明提供了一种晶圆湿处理设备,解决了在对晶圆进行固定时,以往都是采用底面完全贴合在固定支架上对晶圆进行甩干,致使在对晶圆进行甩干时,底面的晶圆上的溶液无法被甩干,从而需要将其反向过来再次的进行甩干,同时由于溶液是化学物质,由于在对晶圆进行甩干时,没有对其很好的进行密封,溶液使甩出的溶液溅到附近的工作人员的身上的问题。
(二)技术方案
为实现以上目的,本发明通过以下技术方案予以实现:一种晶圆湿处理设备,其结构包括防护罩结构、控制主机、底脚、控制面板、固定结构、电机,所述防护罩结构固定于控制主机上方,所述控制主机上设有控制面板,所述控制主机下方设有底脚,所述控制主机内部设有电机,所述固定结构与电机机械连接,所述固定结构包括夹紧爪结构、放置基座结构、旋转轴杆,所述夹紧爪结构安装于放置基座结构上且机械连接,所述放置基座结构下方固定设有旋转轴杆。
作为优选,所述夹紧爪结构包括夹紧器、上顶板、防护板、嵌入支板,所述夹紧器贯穿安装于上顶板上,所述上顶板与防护板为一体化结构,且左上角呈“90”度,所述嵌入支板左侧焊接于防护板右侧。
作为优选,所述嵌入支板前后两侧设有摩擦板,中部呈长方体结构。
作为优选,所述夹紧器包括上拉板、拉杆、缓冲弹簧、压板,所述上拉板与拉杆为一体浇筑成型,所述拉杆贯穿于缓冲弹簧中,所述拉杆下端焊接于压板上,所述压板下端设有缓冲小球,且缓冲小球呈半球形结构。
作为优选,所述放置基座结构包括嵌入孔、缓冲球、放置板架、连接孔、中基板,所述嵌入孔与放置板架为一体化结构,所述缓冲球粘合于放置板架上,所述放置板架与连接孔为一体化结构,所述放置板架共设有四根,且均匀分布于中基板四周,所述缓冲球采用橡胶材质制成。
作为优选,所述防护罩结构包括机壳、通孔、导液结构、小支块、导流架、上封盖,所述上封盖放置于机壳上,所述通孔与导流架为一体化结构,所述机壳下端与导液结构上端相焊接,所述小支块共设有四块,且均匀分布于机壳底部。
作为优选,所述导流架由导流坡与内导流座组成,且内导流座设于导流坡内侧,内导流座呈圆台结构,且中部呈空心状态,同时导流坡内侧呈斜坡结构。
作为优选,所述导液结构包括出水孔、导水槽、连接管,所述出水孔焊接于导水槽左侧且相互连通,所述连接管共设有四根,且均匀焊接于导水槽上方,所述导水槽呈裸空的圆环结构。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于商帅,未经商帅许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010030676.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造