[发明专利]DRAM芯片老化测试设备、方法、计算机设备及存储介质

权利要求书

1.一种DRAM芯片老化测试方法，其特征在于，基于一种DRAM芯片老化测试设备，所述DRAM芯片老化测试设备包括用于提供环境温度控制的老化柜，及连接并控制所述老化柜的通信控制模块，以及用于放置被测试DRAM芯片的测试板，所述测试板包括有用于测试DRAM芯片的SSD主控模块，所述SSD主控模块通过高速DRAM接口连接多个DRAM芯片进行测试；

所述通信控制模块的受控端连接有控制终端，通信控制模块的控制端通过连接器连接所述老化柜，控制终端下发控制指令到通信控制模块并控制老化柜工作，老化柜通过通信控制模块上传测试数据；

所述老化柜内设置有包含多层放置位的测试架，所述测试板对应设置于所述测试架的放置位上进行老化测试；

所述老化柜内设置有温度可调节的温控腔体，所述测试架设置于所述温控腔体内，通过调节温控腔体的温度以调节测试架的环境温度；所述老化柜提供用于设置所述温控腔体的温控腔体区，用于设置所述连接器的隔离区，和用于设置所述通信控制模块的常温区，所述通信控制模块通过所述连接器连接所述测试板；

其中，老化柜根据接收到的控制指令或者SSD主控模块的反馈信息，调整老化柜内的温控腔体温度，以使得老化柜内的环境温度达到目标测试温度；

所述DRAM芯片老化测试方法包括以下步骤：

将DRAM芯片放置在测试板，同时根据测试板编号生成对应的DRAM分布文件，DRAM芯片放置完成后将测试板连接老化柜，所述的DRAM分布文件包括DRAM芯片在测试板上的放置位置信息；

获取来自控制终端的控制指令和测试程序；

通过测试板上的SSD主控模块运行测试程序，驱动对应的DRAM芯片进行相应的老化测试以得到测试数据，老化柜根据控制指令进行温度控制；

将测试数据通过通信控制模块上传到控制终端，并根据DRAM分布文件和测试数据生成相应的测试信息文件，所述测试信息文件包括DRAM芯片在测试板上的放置位置信息，以及对应DRAM芯片的测试数据；

根据测试信息文件自动分选对应测试板上的DRAM芯片；

所述通过测试板上的SSD主控模块运行测试程序，驱动对应的DRAM芯片进行相应的老化测试以得到测试数据，老化柜根据控制指令进行温度控制的步骤，包括：

根据控制指令，控制老化柜内的环境温度到目标温度；

通过SSD主控模块在目标温度下运行对应的测试程序，驱动DRAM芯片进行相应的老化测试，以得到对应DRAM芯片的测试数据；

所述将测试数据通过通信控制模块上传到控制终端，并根据DRAM分布文件和测试数据生成相应的测试信息文件的步骤，包括：

根据测试数据对被测试的DRAM芯片进行分类，以得到DRAM芯片的等级信息；

根据DRAM芯片的等级信息和DRAM分布文件生成对应测试板的测试信息文件；

其中，通过自动上下料机将DRAM芯片放置于测试板上，同时根据测试板编号生成对应的DRAM分布文件，由于老化柜上可以同时连接多个测试板，不同的测试板对应关联有唯一的测试板编号，根据测试板编号可以对测试板进行准确的定位，DRAM芯片放置完成后将测试板连接老化柜；其中，测试板上可以同时放置若干个DRAM芯片，而基于测试板编号生成的DRAM分布文件包括有放置于该测试板的所有DRAM芯片的放置位置信息，通过DRAM分布文件即可获取到对应测试板上的不同DRAM芯片的放置位置；

在SSD主控模块执行老化测试之前，老化柜根据控制指令或者SSD主控模块的反馈信息，调节温控腔体的温度，以使得温控腔体内的环境温度符合目标测试温度的要求，在测试板的环境温度达到目标测试温度后，SSD主控模块才运行测试程序进行对应的老化测试；

在测试完成之后，老化柜将测试数据通过通信控制模块上传到控制终端，控制终端根据测试数据对被测试的DRAM芯片进行对应的分类，并结合上述的DRAM分布文件和测试数据生成相应的测试信息文件，测试信息文件包括DRAM芯片在测试板上的放置位置信息，以及对应DRAM芯片的测试数据，根据测试信息文件可以得到不同分类等级的DRAM芯片在具体测试板上的位置，可以根据测试信息文件自动取下不同分类等级的DRAM芯片；

通过自动上下料机根据测试信息文件对具体测试板上的DRAM芯片进行分选，将不同的DRAM芯片从对应的测试板中取下，并进行归类放置。