[发明专利]一种图像畸变校正的方法及装置在审

专利信息
申请号: 202010027035.X 申请日: 2020-01-10
公开(公告)号: CN111260567A 公开(公告)日: 2020-06-09
发明(设计)人: 朱健文 申请(专利权)人: 昆山丘钛微电子科技有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 代理人: 原婧
地址: 215300 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 图像 畸变 校正 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种图像畸变校正的方法,应用于具有小型菲涅尔透镜的摄像头模组中,其特征在于,包括:

获取待处理畸变图像上非环形阴影区域的第一像素点;

获取样本畸变图像上每个像素点相对于样本正常图像上相同像素点的畸变规律,其中,所述样本畸变图像为经过小型菲涅尔透镜拍摄得到的图像,所述样本正常图像为不用所述小型菲涅尔透镜拍摄获得的图像;

基于所述畸变规律,对所述第一像素点的坐标进行调整,获得畸变校正后的图像。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取样本畸变图像上每个像素点相对于样本正常图像上相同像素点的畸变规律,包括:

获取所述小型菲涅尔透镜的圆心坐标和半径;

基于所述小型菲涅尔透镜的圆心坐标和半径,获得所述畸变规律。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述获取所述小型菲涅尔透镜的圆心坐标和半径,具体包括:

获取通过所述小型菲涅尔透镜拍摄的在白板下的白板图像;

获取所述白板图像的白板环形阴上的N个坐标,N为正整数;

基于所述N个坐标,通过拟合得到所述白板环形阴影的圆心坐标以及半径,即为所述小型菲涅尔透镜的圆心坐标和半径。

4.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述小型菲涅尔透镜的圆心坐标和半径,获得所述畸变规律,具体包括:

基于所述小型菲涅尔透镜的圆心坐标和半径,获取所述样本畸变图像中每个像素点与所述圆心之间的第一距离;

获取所述样本正常图像上相同像素点与所述圆心之间的第二距离;

基于每个所述第一距离,以及每个所述第一距离与对应的所述第二距离的差值,通过拟合,构建所述第一距离与对应的所述差值之间的线性关系,即获得所述样本畸变图像上每个像素点相对于所述样本正常图像上相同像素点的畸变规律。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于所述畸变规律,对所述第一像素点的坐标进行调整,获得畸变校正后的图像,具体包括:

从所述待处理畸变图像上获取所述第一像素点与所述圆心之间的第三距离;

基于所述第三距离和所述畸变规律,获得目标差值,所述目标差值具体为所述第三距离与第四距离的差值,所述第四距离具体为在与所述待处理畸变图像对应的新的正常图像上,与所述第一像素点相同像素点到所述圆心的距离;

基于所述目标差值,对所述第一像素点的坐标进行调整,获得畸变校正后的图像。

6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述基于所述目标差值,对所述第一像素点的坐标进行调整,具体包括:

基于所述目标差值,将所述第一像素点的位置坐标沿着远离所述圆心的方向上调整,且调整量为所述目标差值。

7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在对所述第一像素点的坐标进行调整之后,还包括:

获取未经过坐标调整的像素点,作为第二像素点;

获取所述第二像素点的像素值;

获取所述第二像素点周围M个像素点的像素值的均值,M为正整数;

将所述均值替换所述第二像素点的像素值。

8.一种图像畸变校正的装置,应用于具有小型菲涅尔透镜的摄像头模组中,其特征在于,包括:

第一获取模块,用于获取待处理畸变图像上非环形阴影区域的第一像素点;

第二获取模块,用于获取样本畸变图像上每个像素点相对于样本正常图像上相同像素点的畸变规律,其中,所述样本畸变图像为经过小型菲涅尔透镜拍摄得到的图像,所述样本正常图像为不用所述小型菲涅尔透镜拍摄获得的图像;

调整模块,用于基于所述畸变规律,对所述第一像素点的坐标进行调整,获得畸变校正后的图像。

9.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-7中任一权利要求所述的方法步骤。

10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一权利要求所述的方法步骤。

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