[发明专利]电子设备内部尘点检测方法

说明书

本申请提供一种电子设备内部尘点检测方法，所述电子设备内部尘点检测方法包括：提供电子设备，所述电子设备包括本体和透光盖板，所述本体具有待检测区域，所述透光盖板正对所述待检测区域；向所述透光盖板外表面输出含有阴离子的除尘气体，所述除尘气体中和所述透光盖板外表面的阳离子，降低所述透光盖板外表面的静电吸附力；除去吸附在所述透光盖板外表面的外部尘点；检测导光通道内的尘点，其中，所述导光通道为光线透过所述透光盖板至所述待检测区域的通道。本实施方式在检测所述所述导光通道内的尘点之前，除去吸附在所述透光盖板外表面的外部尘点，避免所述透光盖板外表面的所述外部尘点干扰对所述导光通道内的尘点的检测。

技术领域

本申请涉及电子科技领域，尤其涉及一种电子设备内部尘点检测方法。

背景技术

在手机质量检测的过程中，通常需要检测手机内部是否附着白点毛丝之类的尘点，然而，手机盖板等的器件的外表面也时常会附着白点毛丝之类的尘点，手机盖板外表面的尘点会影响到手机内部的检测，使得检测的结果无法反映手机内部的尘点。

发明内容

本申请提供一种电子设备内部尘点检测方法，所述电子设备内部尘点检测方法在除去所述透光盖板外表面的外部尘点之后，再检测所述导光通道内的尘点；避免所述透光盖板外表面的外部尘点，干扰检测所述导光通道内的尘点。

所述电子设备内部尘点检测方法包括：提供电子设备，所述电子设备包括本体和透光盖板，所述本体具有待检测区域，所述透光盖板正对所述待检测区域；向所述透光盖板外表面输出含有阴离子的除尘气体，所述除尘气体中和所述透光盖板外表面的阳离子，降低所述透光盖板外表面的静电吸附力；除去吸附在所述透光盖板外表面的外部尘点；检测导光通道内的尘点，其中，所述导光通道为光线透过所述透光盖板至所述待检测区域的通道。

本实施方式在检测所述所述导光通道内的尘点之前，除去吸附在所述透光盖板外表面的外部尘点，避免所述透光盖板外表面的所述外部尘点干扰对所述导光通道内的尘点的检测。进一步地，本实施方式通过向所述透光盖板外表面输出含有阴离子的气体，降低所述透光盖板外表面的静电吸附力，使得附着在所述透光盖板外表面的所述外部尘点更易于脱落，提高了除去吸附在所述透光盖板外表面的外部尘点的效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请一实施方式提供的电子设备内部尘点检测方法的流程图。

图2为本申请另一实施方式提供的电子设备内部尘点检测方法的流程图。

图3为本申请又一实施方式提供的电子设备内部尘点检测方法的流程图。

图4为本申请又一实施方式提供的电子设备内部尘点检测方法的流程图。

图5为本申请又一实施方式提供的电子设备内部尘点检测方法的流程图。

图6为本申请又一实施方式提供的电子设备内部尘点检测方法的流程图。

图7为本申请又一实施方式提供的电子设备内部尘点检测方法的流程图。

图8为本申请又一实施方式提供的电子设备内部尘点检测方法的流程图。

图9为本申请又一实施方式提供的电子设备内部尘点检测方法的流程图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施方式中的附图，对本申请实施方式中的技术方案进行描述，显然，所描述的实施方式仅仅是本申请一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本申请中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本申请保护的范围。