[发明专利]半导体装置和包括该半导体装置的半导体系统

说明书

提供一种半导体装置和包括该半导体装置的半导体系统。根据实施例的半导体系统包括：半导体系统，其包括正常存储单元阵列和用于修复正常存储单元阵列内的存储单元之中的缺陷单元的冗余存储单元阵列，并被配置为将根据从冗余存储单元阵列输出的读取数据中的故障位的数目所产生的故障标志输出到外部；以及主机，其被配置为将与所述读取数据相对应的地址储存到多个寄存器组之中的选定的寄存器组中，所述选定的寄存器组与所述故障标志相匹配。

相关申请的交叉引用

本申请要求2019年4月15日向韩国知识产权局提交的申请号为10-2019-0043912的韩国专利申请的优先权，其公开内容通过引用整体合并于此。

技术领域

本公开的实施例的各种示例总体上涉及一种半导体电路，并且更具体地，涉及一种半导体装置以及包括该半导体装置的半导体系统。

背景技术

半导体装置可以包括正常存储单元阵列和冗余存储单元阵列。

通过测试过程，半导体装置可以检测出不能使用的正常存储单元(以下称为缺陷单元)，并且可以将用于访问所述缺陷单元的地址(以下称为缺陷地址)储存在单独的储存装置中。

在冗余存储单元之中，使用的可以是满足特定条件的冗余存储单元，例如，能够进行错误校正码(ECC)校正的条件。

由于冗余存储单元具有替换正常存储单元的重要作用，因此更相对有效地管理冗余存储单元从而提升半导体装置的可靠性和耐久性非常重要。

发明内容

在本公开的实施例中，一种半导体系统可以包括：半导体装置，其包括正常存储单元阵列和用于修复正常存储单元阵列内的存储单元之中的缺陷单元的冗余存储单元阵列，并被配置为将根据从冗余存储单元阵列输出的读取数据中的故障位的数目所产生的故障标志输出到外部；以及主机，其被配置为将与所述读取数据相对应的地址储存到多个寄存器组之中的选定的寄存器组中，所述选定的寄存器组与所述故障标志相匹配。

在本公开的实施例中，一种半导体装置可以包括：正常存储单元阵列；冗余存储单元阵列，其用于修复正常存储单元阵列内的存储单元之中的缺陷单元；故障信息控制电路，其被配置为产生与从冗余存储单元阵列内的存储单元输出的读取数据中的故障位的数目有关的信息；寄存器阵列，其包括多个寄存器组；以及测试电路，其被配置为将写入数据储存到冗余存储单元阵列内的存储单元中，被配置为控制冗余存储单元阵列内的存储单元以输出所述读取数据，并被配置为将与所述读取数据相对应的地址储存到所述多个寄存器组之中的选定的寄存器组中，所述多个寄存器组之中的所述选定的寄存器组对应于与所述读取数据中的故障位的数目有关的信息。

附图说明

结合附图来描述特征、方面和实施例，其中：

图1是示出根据本公开的实施例的半导体系统的配置的示例表示的图；

图2是示出图1所示的寄存器阵列的配置的示例表示的图；

图3是示出图1所示的故障信息控制电路的配置的示例表示的图；

图4是示出图3所示的故障位计数器和计数信号校正电路的配置的示例表示的图；

图5是示出图4所示的故障位计数器的操作的示例表示的时序图；

图6是示出根据本公开的实施例的故障标志输出方案的示例表示的图；

图7是示出根据本公开的实施例的管理冗余存储单元的方法的示例表示的流程图；

图8是示出图7所示的冗余存储单元阵列的后台写入和扫描的方法的示例表示的图；

图9是示出图7所示的故障标志输出方案的示例表示的图；以及