[发明专利]检测电路、阵列基板、显示面板

说明书

本发明涉及显示技术领域，提出一种检测电路、阵列基板及显示面板。阵列基板包括多种信号线，多种信号线包括至少一种栅线和多种数据线，每种信号线包括多条信号线，其特征在于，检测电路包括与每种信号线一一对应设置的：多个第一开关单元，与每条信号线一一对应设置，第一开关单元的第一端连接该信号线的第一端，第二端相互短接，控制端连接第一控制信号端；多个第二开关单元，与每条信号一一对应设置，第二开关单元的第一端连接该信号线的第二端，第二端相互短接，控制端连接第二控制信号端。该检测电路即能够实现阵列基板的SD OS检测(SD Open/Shorting，源/漏层开路或短路)，还能够实现阵列基板的SD AT检测(SD Array Test，源/漏层阵列检测)。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种检测电路、阵列基板、显示面板。

背景技术

阵列基板一般集成有多种信号线，多种信号线包括有至少一种栅极和多种数据线。例如，栅极可以包括用于向像素驱动电路提供栅极驱动信号的信号线，用于向像素驱动电路中感测晶体管栅极提供控制信号的信号线。数据线可以包括用于向像素驱动电路提供数据信号的信号线，用于向像素驱动电路提供电源信号的信号线，以及与像素驱动电路中感测晶体管源/漏极连接的感测信号线。由于阵列基板上集成的信号线较为密集，从而容易造成阵列基板上信号线之间发生短路，且信号线自身也容易发生开路，最终造成显示不良。

需要说明的是，在上述背景技术部分发明的信息仅用于加强对本发明的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本发明的目的在于提供一种检测电路、阵列基板、显示面板。该检测电路能够解决相关技术中阵列基板仅能采用SD OS(SD Open/Shorting，源/漏层开路或短路检测)、SD AT(SD Array Test，源/漏层阵列检测)中的一种检测方式的技术问题。

本发明的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本发明的实践而习得。

根据本发明的一个方面，提供一种检测电路，应用于阵列基板，所述阵列基板包括多种信号线，多种所述信号线包括至少一种栅线和多种数据线，每种信号线包括多条信号线，所述检测电路包括与每种所述信号线一一对应设置的多个第一开关单元和多个第二开关单元。多个第一开关单元与每条所述信号线一一对应设置，所述第一开关单元的第一端连接该信号线的第一端，第二端相互短接，控制端连接第一控制信号端；多个第二开关单元与每条所述信号一一对应设置，所述第二开关单元的第一端连接该信号线的第二端，第二端相互短接，控制端连接第二控制信号端。

本发明的一种示例性实施例中，所述检测电路还包括设置于所述第一开关单元和与其对应的信号线之间的第一连接线，所述第一连接线连接于所述第一开关单元第一端和与其对应的信号线之间；所述检测电路还包括设置于所述第二开关单元和与其对应的信号线之间的第二连接线，所述第二连接线连接于所述第二开关单元第一端和与其对应的信号线之间。

本发明的一种示例性实施例中，所述阵列基板包括位于显示区周围的走线区，所述第一开关单元、所述第二开关单元、第一连接线以及第二连接线设置于所述走线区。其中，显示区周围可以指显示区的一侧、多侧、或围绕显示区的一圈。

本发明的一种示例性实施例中，所述第一开关单元包括第一晶体管，第一晶体管的第一端连接所述信号线的第一端，第二端相互短接，控制端连接第一控制信号端；所述第二开关单元包括第二晶体管，第二晶体管的第一端连接所述信号线的第二端，第二端相互短接，控制端连接第二控制信号端。

本发明的一种示例性实施例中，所述第一晶体管和所述第二晶体管与所述显示区内的晶体管同层设置。

本发明的一种示例性实施例中，所述第一连接线、第二连接线位于所述阵列基板的源/漏层，与所述栅线连接的所述第一连接线、第二连接线通过过孔与所述栅线连接。