[发明专利]检测电路、阵列基板、显示面板

权利要求书

1.一种检测电路，应用于阵列基板，所述阵列基板包括多种信号线，多种所述信号线包括至少一种栅线和多种数据线，每种信号线包括多条信号线，其特征在于，所述检测电路包括与每种所述信号线一一对应设置的：

多个第一开关单元，与每条所述信号线一一对应设置，所述第一开关单元的第一端连接该信号线的第一端，第二端相互短接，控制端连接第一控制信号端；

多个第二开关单元，与每条所述信号线一一对应设置，所述第二开关单元的第一端连接该信号线的第二端，第二端相互短接，控制端连接第二控制信号端。

2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，

所述检测电路还包括设置于所述第一开关单元和与其对应的信号线之间的第一连接线，所述第一连接线连接于所述第一开关单元第一端和与其对应的信号线之间；

所述检测电路还包括设置于所述第二开关单元和与其对应的信号线之间的第二连接线，所述第二连接线连接于所述第二开关单元第一端和与其对应的信号线之间。

3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述阵列基板包括位于显示区周围的走线区，所述第一开关单元、所述第二开关单元、第一连接线以及第二连接线设置于所述走线区。

4.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第一开关单元包括：

第一晶体管，第一端连接所述信号线的第一端，多个所述第一晶体管的第二端相互短接，控制端连接第一控制信号端；

所述第二开关单元包括：

第二晶体管，第一端连接所述信号线的第二端，多个所述第二晶体管的第二端相互短接，控制端连接第二控制信号端。

5.根据权利要求4所述的检测电路，其特征在于，所述阵列基板包括显示区，所述第一晶体管和所述第二晶体管与所述显示区内的晶体管同层设置。

6.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述第一连接线、第二连接线位于所述阵列基板的源/漏层，且所述第一连接线、第二连接线通过过孔与所述栅线连接。

7.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述检测电路包括与每种所述信号线一一对应设置的：

第一短接线，位于所述阵列基板的第一导电层，通过过孔和与其对应的多个所述第一开关单元的第二端连接；

第二短接线，位于所述阵列基板的第一导电层，通过过孔和与其对应的多个所述第二开关单元的第二端连接；

其中，所述第一导电层与所述阵列基板的源/漏层位于不同层。

8.根据权利要求7所述的检测电路，其特征在于，所述第一导电层为阵列基板的栅极层。

9.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述检测电路包括与每种所述信号线一一对应设置的：

第一控制线，位于所述阵列基板的栅极层，且和与其对应的多个所述第一开关单元的控制端连接；

第二控制线，位于所述阵列基板的栅极层，且和与其对应的多个所述第二开关单元的控制端连接。

10.根据权利要求9所述的检测电路，其特征在于，所述检测电路包括与每种所述信号线一一对应设置的：

多个第一探针垫，所述探针垫设置于所述阵列基板的表面，且和与其对应的第一控制线连接；

多个第二探针垫，所述探针垫设置于所述阵列基板的表面，且和与其对应的第二控制线连接。

11.一种阵列基板，其特征在于，包括权利要求1-10任一项所述的检测电路。

12.根据权利要求11所示的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板中的像素驱动电路包括存储电容和驱动晶体管，所述存储电容与驱动晶体管源/漏极连接的电极位于所述阵列基板的源/漏层。

13.一种显示面板，其特征在于，包括权利要求11或12所述的阵列基板。