[发明专利]探测卡、探测系统及探测方法在审
| 申请号: | 202010004449.0 | 申请日: | 2020-01-03 |
| 公开(公告)号: | CN113075429A | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
| 发明(设计)人: | 刘俊良 | 申请(专利权)人: | 迪科特测试科技(苏州)有限公司 |
| 主分类号: | G01R1/073 | 分类号: | G01R1/073;G01R1/02 |
| 代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 王宇航;黄艳 |
| 地址: | 215125 江苏省苏州市苏州工业园*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 探测 系统 方法 | ||
1.一种探测卡,包括:
一框架;
一支撑构件,布置在该框架上并从此突出;
一开口,延伸通过该框架并进入该支撑构件内;
一光纤,单独布置并从该支撑构件突出;以及
许多探针,从该框架突出并布置在该光纤旁。
2.如权利要求1所述的探测卡,其中该光纤围绕许多探针。
3.如权利要求1所述的探测卡,其中该许多探针都从布置于该框架上并沿着该支撑构件的一介电薄膜突出,并且该光纤由该介电薄膜所围绕。
4.如权利要求1所述的探测卡,其中该光纤布置在该开口之内或沿着该支撑构件的一表面。
5.如权利要求1所述的探测卡,其中该光纤至少部分附接至该支撑构件。
6.如权利要求1所述的探测卡,其中该光纤为一纤维阵列区块或包括许多光纤。
7.如权利要求1所述的探测卡,其中该支撑构件由玻璃或陶瓷制成。
8.如权利要求3所述的探测卡,其中该介电薄膜至少部分附接至该支撑构件。
9.如权利要求1所述的探测卡,其中该支撑构件与许多探针隔开。
10.如权利要求3所述的探测卡,其中该介电薄膜可弯曲。
11.如权利要求1所述的探测卡,其中所述许多探针都通过许多信号线路电连接至一电路板。
12.一种探测系统,包括:
一电路板;
一探测卡,包括固接在该电路板上的一框架、从该框架突出的一支撑构件、延伸通过该框架与该支撑构件的一开口、沿着该支撑构件布置并从此突出的一光纤和从该框架突出并布置在该光纤旁的许多探针;以及
一夹具,经配置用以支撑一受测装置,
其中该支撑构件和该光纤都布置在该夹具上方。
13.如权利要求12所述的探测系统,其中该支撑构件和该光纤都由该电路板围绕并从此突出。
14.如权利要求12所述的探测系统,其中该光纤的一端对齐该受测装置之上一对应耦合器。
15.如权利要求12所述的探测系统,另包括一台阶,其布置在该开口内并经配置用以将该支撑构件和该光纤移位并定向。
16.如权利要求12所述的探测系统,其中该支撑构件可相对于该电路板移位。
17.一种探测方法,包括:
提供一电路板、在该电路板上方的一探测卡、在该电路板与该探测卡下方的一夹具以及在该夹具上的一受测装置受测装置,其中该探测卡包括固接在该电路板上的一框架、从该框架突出的一支撑构件、延伸通过该框架与该支撑构件的一开口沿着该支撑构件布置并从此突出的一光纤和从该框架突出并布置在该光纤旁的许多探针;
将该光纤的一末端部分对齐该受测装置上方的一耦合器;以及
利用所述许多探针探测该受测装置上方的许多焊垫。
18.如权利要求17所述的探测方法,其中该对齐包括相对于该受测装置移动或旋转该支撑构件。
19.如权利要求17所述的探测方法,其中利用所述许多探针通过朝向该受测装置移动该支撑构件,或朝向该探测卡移动该夹具和该受测装置,来探测该受测装置。
20.如权利要求17所述的探测方法,另包括:
通过该光纤将一光信号传输至该受测装置;以及
从该受测装置将一回应信号传输至所述许多探针,以回应该光信号。
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