[发明专利]半导体装置在审
| 申请号: | 201980096512.3 | 申请日: | 2019-05-23 |
| 公开(公告)号: | CN113853675A | 公开(公告)日: | 2021-12-28 |
| 发明(设计)人: | 大久保和哉 | 申请(专利权)人: | 株式会社索思未来 |
| 主分类号: | H01L21/822 | 分类号: | H01L21/822;H01L27/04 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 邰琳琳 |
| 地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
本发明提供半导体装置,具有:第一布线,形成于基板;第一电路区域,具备第一电源布线和第一接地布线;第二电路区域,具备第二电源布线和第二接地布线;以及双向二极管,连接在上述第一接地布线与上述第二接地布线之间,具备第一二极管和第二二极管,上述第一二极管具有与上述第二接地布线电连接的第一导电型的第一杂质区域和与上述第一接地布线电连接的第二导电型的第二杂质区域,上述第二二极管具有与上述第二接地布线电连接的上述第二导电型的第三杂质区域和与上述第一接地布线电连接的上述第一导电型的第四杂质区域,上述第一杂质区域、或上述第二杂质区域、或上述第三杂质区域、或上述第四杂质区域、或它们的任意组合与上述第一布线连接。
技术领域
本发明涉及半导体装置。
背景技术
存在半导体装置具有模拟电路用的域和逻辑电路用的域的情况。在该情况下,具有在模拟电路用的域的VSS的电源布线与逻辑电路用的域的VSS的电源布线之间设置双向二极管的情况。
电源布线主要设置在基板的上方,但近年来,提出了将电源布线埋入到基板中的半导体装置。存在将这样的结构的电源布线称为BPR(Buried Power Rail:掩埋式电源轨)的情况。
专利文献1:美国专利申请公开第2016/0372453号说明书
专利文献2:美国专利申请公开第2012/0033335号说明书
专利文献3:美国专利第9224725号说明书
专利文献4:美国专利申请公开第2018/0374791号说明书
专利文献5:美国专利申请公开第2018/0190670号说明书
专利文献6:美国专利申请公开第2018/0294267号说明书
专利文献7:美国专利申请公开第2017/0294448号说明书
专利文献8:美国专利第9570395号说明书
到目前为止,对于包含双向二极管的半导体装置使用如BPR那样的埋入布线的情况下的具体结构,未进行过详细的研究。
发明内容
本发明的目的在于提供能够实现包含埋入布线的双向二极管的半导体装置。
公开的技术的半导体装置具有:基板;第一布线,形成于上述基板;第一电路区域,具备第一电源布线和第一接地布线;第二电路区域,具备第二电源布线和第二接地布线;以及双向二极管,连接在上述第一接地布线与上述第二接地布线之间,且具备第一二极管和第二二极管。上述第一二极管具有:第一导电型的第一杂质区域,与上述第二接地布线电连接;以及第二导电型的第二杂质区域,上述第二导电型与上述第一导电型不同,上述第二杂质区域与上述第一接地布线电连接。上述第二二极管具有:上述第二导电型的第三杂质区域,与上述第二接地布线电连接;以及上述第一导电型的第四杂质区域,与上述第一接地布线电连接。上述第一杂质区域、或上述第二杂质区域、或上述第三杂质区域、或上述第四杂质区域、或这些区域的任意组合与上述第一布线连接。
根据公开的技术,能够实现包含埋入布线的双向二极管。
附图说明
图1是表示第一实施方式的半导体装置的布局的图。
图2是表示第一实施方式的半导体装置所包含的模拟电路区域的结构的电路图。
图3是表示第一实施方式中的一个二极管的平面结构的示意图。
图4是表示第一实施方式中的一个二极管的剖视图。
图5是表示第一实施方式中的另一个二极管的平面结构的示意图。
图6是表示第一实施方式中的另一个二极管的剖视图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社索思未来,未经株式会社索思未来许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201980096512.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





