[发明专利]耐磨性得到改善的具有干涉涂层的光学制品有效

专利信息
申请号: 201980067837.9 申请日: 2019-10-17
公开(公告)号: CN112867945B 公开(公告)日: 2023-06-16
发明(设计)人: B·恩普林;N·迈特尔;S·基亚罗托 申请(专利权)人: 依视路国际公司
主分类号: G02B1/115 分类号: G02B1/115
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 刘娜;张振军
地址: 法国沙*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 耐磨性 得到 改善 具有 干涉 涂层 光学 制品
【权利要求书】:

1.一种光学制品,所述光学制品包括具有至少一个主面的基材,所述至少一个主面依次涂覆有:

-包含铬、硅和氧的层,

-厚度大于或等于100nm的单层子层,

-多层干涉涂层,所述多层干涉涂层包括折射率高于1.55的至少一个高折射率层和折射率为1.55或更小的至少一个低折射率层的堆叠体,其中:

比率:

大于或等于1.7,并且

其中,所述光学制品具有根据ASTM F735-81标准确定的大于或等于7的拜耳值。

2.根据权利要求1所述的光学制品,其中,所述子层具有大于或等于120nm的厚度。

3.根据权利要求2所述的光学制品,其中,所述子层具有大于或等于130nm的厚度。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的光学制品,其中,所述子层是基于SiO2的层。

5.根据权利要求1-3中任一项所述的光学制品,其中,所述子层与所述干涉涂层直接接触。

6.根据权利要求1-3中任一项所述的光学制品,其中,所述子层在小于-250MPa的压缩应力下处于压缩状态。

7.根据权利要求1-3中任一项所述的光学制品,其中,包含铬、硅和氧的所述层具有小于或等于10nm的厚度。

8.根据权利要求1-3中任一项所述的光学制品,其中,包含铬、硅和氧的所述层的折射率高于1.55。

9.根据权利要求1-3中任一项所述的光学制品,其中,包含铬、硅和氧的所述层与所述子层直接接触。

10.根据权利要求1-3中任一项所述的光学制品,其中,所述子层的沉积是在低于1.6×10-4mBar的压力下在真空室中进行的。

11.根据权利要求1-3中任一项所述的光学制品,其中,所述子层的沉积是在真空室中进行的,在所述沉积过程中不向所述真空室中供应补充气体。

12.根据权利要求1-3中任一项所述的光学制品,其中,所述干涉涂层是减反射涂层。

13.根据权利要求1-3中任一项所述的光学制品,其中,所述光学制品是眼科镜片。

14.一种制造根据前述权利要求中任一项所述的光学制品的方法,所述方法包括:

-提供光学制品,所述光学制品包括具有至少一个主面的基材,

-在所述基材的主表面上沉积包含铬、硅和氧的层,

-在包含铬、硅和氧的所述层上沉积具有外露表面且厚度大于或等于100nm的单层子层,

-将多层干涉涂层沉积在所述子层的所述外露表面上,所述多层干涉涂层包括折射率高于1.55的至少一个高折射率层和折射率为1.55或更小的至少一个低折射率层,由此获得有涂层的光学制品,其中,比率

大于或等于1.7,并且

其中,所述有涂层的光学制品具有根据ASTM F735-81标准确定的大于或等于7的拜耳值。

15.根据权利要求14所述的方法,其中,在沉积所述多层干涉涂层之前,使所述子层的所述外露表面经受离子轰击处理,并且其中,在真空室中进行所述子层的沉积,在所述沉积过程中不向所述真空室中供应补充气体。

16.根据权利要求14或15所述的方法,其中,在沉积所述多层干涉涂层的后续层之前,对所述多层干涉涂层的至少一个层的外露表面进行了离子轰击处理。

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