[发明专利]触底判定基准设定方法及存储介质有效

专利信息
申请号: 201980057515.6 申请日: 2019-09-25
公开(公告)号: CN112654847B 公开(公告)日: 2022-05-03
发明(设计)人: 西垣弘二 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: G01L25/00 分类号: G01L25/00;G01L5/00;B25B23/14
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 马爽;臧建明
地址: 日本京都府京都市下京区盐小路通堀川东*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 触底 判定 基准 设定 方法 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种触底判定基准设定方法,设定用于判定螺丝拧紧中的触底的基准,

使用测量系统,所述测量系统包括具有规定的深度的测定用螺丝孔的螺丝孔构件及测量施加至已与所述测定用螺丝孔螺合的测定用螺丝的座面与所述螺丝孔构件之间的压缩力的轴力测量装置,所述触底判定基准设定方法包括:

螺合步骤,使所述测定用螺丝与所述测定用螺丝孔螺合;

参数获取步骤,获取所述螺合步骤中的参数;

轴力测量步骤,利用所述轴力测量装置,测量施加至所述座面与所述螺丝孔构件之间的由所述测定用螺丝所产生的轴力;

触底判定步骤,基于所述轴力,判定触底的有无;以及

判定基准设定步骤,将所述触底判定步骤中的判定结果与在所述参数获取步骤中所获取的参数进行对照,由此设定基于所述参数的触底判定基准。

2.根据权利要求1所述的触底判定基准设定方法,其中在所述触底判定步骤中,参照表示所述测定用螺丝与所述测定用螺丝孔螺合的长度、与能判定未产生触底的轴力的范围的关系的表,判定触底的有无。

3.一种存储介质,存储有程序,所述程序用于使计算机执行如权利要求1所述的触底判定基准设定方法,用于使计算机执行所述参数获取步骤、所述轴力测量步骤、所述触底判定步骤以及所述判定基准设定步骤。

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