[发明专利]质量分析装置及质量分析方法

说明书

本发明实现廉价且能获得高精度的定量结果的质量分析装置。小区间测量指令部(101)指令检测器(9)在信道(4)中的多个小区间(5)中实施测量，将由检测器(9)检测到的信号存储在数据存储部(102)中，利用小区间信号量累计部(103)对信号进行累计，利用信号偏差计算部(104)计算所累计的信号的偏差。信号偏差评价部(105)评价每个小区间5的信号在同一信道4中的信号偏差。在评价为稳定时，动作控制部(106)控制离子源(6)的动作，以无警告的方式直接继续测量。在评价为不稳定时，在测量中或测量后实施警告。

技术领域

本发明涉及气相色谱质量分析装置(GC/MS)、液相色谱质量分析装置(LC/MS)等与色谱仪组合的质量分析装置及质量分析方法。

背景技术

作为质量分析的一种方法，广泛使用被称为MS/MS分析(串联分析)的方法。作为用于进行MS/MS分析的质量分析装置，存在各种结构，但是装置结构相对简单且操作容易的是三联四极型质量分析装置。

专利文献1和非专利文献1记载了一般的三联四极型质量分析装置的结构及其动作方法。将来自利用离子源生成的试料组分的离子导入前级四极质量过滤器(Q1)中，并且将具有特定质荷比(m/z)的离子分类为前体离子。将该前体离子导入碰撞池(Q2)中。将氮气等供应到碰撞池中，并且前体离子在碰撞池中与气体碰撞而离解(CID)，从而生成产物离子。通过后级四极质量过滤器(Q3)对该产物离子进行质量分类，并到达检测器以进行检测。

上述三重四极质量分析装置有时单独使用，但通常与气相色谱仪(GC)或液相色谱仪(LC)等色谱仪组合使用。

三重四极质量分析装置中的MS/MS分析中，有MRM(Multiple ReactionMonitoring：多反应监测)测量模式、SIM(Selected Ion Monitoring：选择性离子监测)测量模式、前体离子扫描测量模式、产物离子扫描测量模式、中性丢失扫描测量模式等测量模式。

在三重四极质量分析装置中，由于试料中的各种组分在色谱仪中在时间上分离，因此可以通过依次切换并连续执行对于不同质荷比的离子的SIM测量模式或MRM测量模式，来获得来自不同化合物的离子强度信号。特别地，在需要定量精度的测量中，通常使用如下方法：使用作为测量对象的化合物和已知浓度的类似的化合物(同位素等)，在进行对应于各化合物的MRM测量之后，通过进行校正来提高定量精度。

当进行这些测量时，质量分析装置中，信号强度可能因电离的不稳定、质量分析装置的电压电极的污染、或施加电压的不稳定等而变得不稳定。

由于信号强度变得不稳定时，使用质量分析装置无法获得正确的结果，因此，重要的是，通过防范于未然，且在这些情况实际发生时迅速监测并给出警告，从而抑制不准确的测量。

特别地，对于电离的不稳定性，由于不像施加电压那样容易监测，因此正在研究离子源的电流监测方法和恒定电流化。

专利文献2记载了通过监测用于大气压化学离子源的电离的电晕放电的放电电流，并改变施加电压以保持电流恒定，来实现稳定的大气压化学离子源。

专利文献3记载了通过监测用于电喷雾离子源的电离的探针电流，并改变探针施加电压以保持电流恒定，来实现稳定的电喷雾离子源。

然而，在液体用离子源中，已知电离效率根据液体样品的喷雾的喷雾状态而变化，并且即使监测放电电流或探针电流并使放电电流或探针电流恒定时，也可能无法获得稳定的信号强度。

专利文献4记载了通过在监测电喷雾离子源的探针电流以外还监测喷雾状态，并控制探针位置、探针施加电压来恢复为正常状态的方法。

此外，记载了通过使用校准样品等已知的样品，控制离子源的位置、施加电压以获得预先设定的信号强度的方法。

现有技术文献

专利文献