[发明专利]质量分析装置及质量分析方法在审
申请号: | 201980050199.X | 申请日: | 2019-07-24 |
公开(公告)号: | CN112514028A | 公开(公告)日: | 2021-03-16 |
发明(设计)人: | 桥本雄一郎 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | H01J49/26 | 分类号: | H01J49/26;G01N30/72;H01J49/10 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 殷明;俞丹 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 质量 分析 装置 方法 | ||
1.一种质量分析装置,该质量分析装置包括:离子源,该离子源将从色谱装置送出的测量试料电离;质量分析部,该质量分析部具有检测由所述离子源生成的离子的检测器并分析质量;以及控制器,该控制器对由所述质量分析部所分析出的离子生成包括溶出时间和信号强度的多个数据,其特征在于,
所述控制器将所述多个数据分割为多个信道,将所述多个信道中的每一个分割为多个小区间,控制所述检测器以针对分割出的多个所述小区间中的每一个检测数据,并基于分割出的多个所述小区间的数据来判定所述离子源是稳定还是不稳定。
2.如权利要求1所述的质量分析装置,其特征在于,
所述控制器计算多个所述小区间的数据的平均值和标准偏差,并基于所述平均值和所述标准偏差来判定所述离子源是稳定还是不稳定。
3.如权利要求2所述的质量分析装置,其特征在于,
还包括显示部,
所述控制器在所述显示部上显示所述离子源是稳定还是不稳定。
4.如权利要求2所述的质量分析装置,其特征在于,
所述控制器在判定为所述离子源不稳定时,变更所述离子源的离子生成条件。
5.如权利要求3或4所述的质量分析装置,其特征在于,
所述控制器包括存储所述小区间的数据的数据存储部,在完成所述小区间的数据的平均值和标准偏差的计算之后,删除存储在所述数据存储部中的所述小区间的数据。
6.如权利要求1、2、3、4、5中任一项所述的质量分析装置,其特征在于,
所述色谱装置是液相色谱装置。
7.一种质量分析方法,该质量分析方法检测由将从色谱装置送出的测量试料电离的离子源生成的离子,并分析质量,对分析出的离子生成包括溶出时间和信号强度的多个数据,其特征在于,
将所述多个数据分割为多个信道,将所述多个信道中的每一个分割为多个小区间,针对分割出的多个所述小区间中的每一个检测数据,并基于分割出的多个所述小区间的数据来判定所述离子源是稳定还是不稳定。
8.如权利要求7所述的质量分析方法,其特征在于,
计算多个所述小区间的数据的平均值和标准偏差,并基于所述平均值和所述标准偏差来判定所述离子源是稳定还是不稳定。
9.如权利要求8所述的质量分析方法,其特征在于,
在显示部上显示所述离子源是稳定还是不稳定。
10.如权利要求8所述的质量分析方法,其特征在于,
所述控制器在判定为所述离子源不稳定时,变更所述离子源的离子生成条件。
11.如权利要求9或10所述的质量分析方法,其特征在于,
将所述小区间的数据存储于数据存储部中,在完成所述小区间的数据的平均值和标准偏差的计算之后,删除存储在所述数据存储部中的所述小区间的数据。
12.如权利要求7、8、9、10、11中任一项所述的质量分析方法,其特征在于,
所述色谱装置是液相色谱装置。
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