[发明专利]具有分布式资源的测试系统

说明书

本发明公开一种示例性测试系统，该示例性测试系统具有分布式资源以供被测试器件(DUT)访问。该示例性测试系统包括器件接口板(DIB)和测试器，该DIB具有连接至待测器件的站点，该测试器具有被配置为保持测试仪器的狭槽。每个测试仪器具有分布在DIB的维度上的资源。该资源被分布以使得站点中的器件能够同等地访问资源。

技术领域

本说明书整体涉及测试系统，该测试系统具有分布式资源以供被测试器件(DUT)访问。

背景技术

器件接口板(DIB)是通用测试系统的器件专用接口。例如，DIB可被配置为容纳不同类型的器件，诸如微处理器或存储器芯片。DIB也可为制造商特定的，这意味着器件的制造商可在测试之前提供DIB。测试信号从测试系统通过DIB路由至被测试器件(DUT)。将来自DUT的信号通过DIB路由至测试系统进行分析，以便确定DUT是否已通过测试。

发明内容

本发明公开一种示例性测试系统，该示例性测试系统具有分布式资源以供被测试器件(DUT)访问。该示例性测试系统包括器件接口板(DIB)和测试器，该DIB包括连接至待测器件的站点，该测试器包括被配置为保持测试仪器的狭槽。每个测试仪器具有分布在DIB的维度上的资源。该资源被分布以使得站点中的器件能够同等地访问资源。示例性测试系统可包括下列特征中的一个或多个(单独地或组合地)。

DIB的维度可对应于DIB的边缘。资源可跨整个边缘分布。资源可对称地跨DIB的多个边缘分布。资源可分布在DIB上，使得资源至少部分地对准DIB上的站点。

DIB可包括实现测试仪器与DIB上的站点之间的电通路的电触点。主题测试仪器与DIB上的多个站点之间的电通路可具有相等的电路径长度。DIB上的站点与主题测试仪器之间的电通路可具有相等的阻抗。DIB上的站点与主题测试仪器之间的每个电通路可产生相同量的信号劣化。

DIB上的站点可被分布成允许对连接到站点的相同器件进行并行测试。DIB可以是或包括由多个层构成的印刷电路板(PCB)。层数可与测试器中的测试仪器数成比例。

示例性测试系统可包括位于DIB与测试器之间的互连器。互连器可包括测试仪器与DIB之间的路由连接。测试仪器可包括处于第一间距的触点，并且资源可处于第二间距。第二间距可小于第一间距。路由连接可被配置为从处于第一间距的测试仪器的触点通到处于第二间距的资源。

互连器可包括用于处理传导通过路由连接的信号的电路。电路可被配置为通过组合来自另外两个路由连接的第一信号来处理信号，以产生用于输出到单个路由电连接的第二信号。单个路由连接可通到DIB上的资源。第二信号可具有比第一信号中的每个信号更高的比特率或频率。

测试仪器的资源可包括DIB上的电触点。DIB上的每个站点可具有相同的配置。

示例性测试系统具有分布式资源以供DUT访问。该示例性测试系统包括DIB和测试器，该DIB包括连接至待测器件的站点，该测试器包括被配置为保持测试仪器的狭槽。每个狭槽对应于跨DIB的与测试器交接的整个边缘分布的电触点。电触点被分布使得主题测试仪器与不同站点中的相同器件之间的至少一些电通路具有相等的电路径长度。示例性测试系统还包括位于测试器与DIB之间的互连器。互连器可被配置为将测试仪器上的触点的间距转换成DIB上的电触点的间距。示例性测试系统可包括下列特征中的一个或多个(单独地或组合地)。

测试仪器上的触点可处于第一间距，并且跨DIB边缘分布的电触点可处于第二间距。第二间距可小于第一间距。互连器可包括路由连接，该路由连接被配置为从处于第一间距的测试仪器的触点通到处于第二间距的电触点。互连器可包括用于处理传导通过路由连接的信号的电路。电路可被配置为通过组合来自另外两个路由连接的第一信号来处理信号，以产生将被输出到单个路由电触点的第二信号。单个路由连接可通到DIB上的电触点。第二信号可具有比第一信号中的每个信号更高的比特率或频率。