[发明专利]具有分布式资源的测试系统

权利要求书

1.一种系统，所述系统包括：

器件接口板(DIB)，所述DIB包括连接至待测器件的站点；和

测试器，所述测试器包括被配置为保持测试仪器的狭槽，每个测试仪器具有分布在所述DIB的维度上的资源，所述资源被分布为使得所述站点中的所述器件能够同等地访问所述资源。

2.根据权利要求1所述的系统，其中所述维度对应于所述DIB的边缘，并且所述资源跨整个所述边缘分布。

3.根据权利要求1所述的系统，其中所述维度对应于所述DIB的边缘，所述资源跨所述DIB的多个边缘对称地分布。

4.根据权利要求1所述的系统，其中所述资源分布在所述DIB上，使得所述资源至少部分地对准所述站点。

5.根据权利要求1所述的系统，其中所述DIB包括电触点，所述电触点实现所述测试仪器与所述DIB上的所述站点之间的电通路。

6.根据权利要求5所述的系统，其中主题测试仪器与所述DIB上的多个站点之间的所述电通路具有相等的电路径长度。

7.根据权利要求5所述的系统，其中所述DIB上的所述站点与所述主题测试仪器之间的所述电通路具有相等的阻抗。

8.根据权利要求5所述的系统，其中所述DIB上的站点与所述主题测试仪器之间的每个电通路产生相同量的信号劣化。

9.根据权利要求1所述的系统，其中所述站点被分布，以允许对连接到所述站点的相同器件进行并行测试。

10.根据权利要求1所述的系统，其中所述DIB包括由多个层构成的印刷电路板(PCB)；并且

其中所述层数与所述测试器中的所述测试仪器数成比例。

11.根据权利要求1所述的系统，所述系统还包括：

互连器，所述互连器位于所述DIB与所述测试器之间，所述互连器包括所述测试仪器与所述DIB之间的路由连接。

12.根据权利要求11所述的系统，其中所述测试仪器包括处于第一间距的触点并且所述资源处于第二间距，所述第二间距小于所述第一间距；并且

其中所述路由连接被配置为从处于所述第一间距的所述测试仪器的所述触点通到处于所述第二间距的所述资源。

13.根据权利要求11所述的系统，其中所述互连器包括用于处理传导通过所述路由连接的信号的电路。

14.根据权利要求13所述的系统，其中所述电路被配置为通过组合来自另外两个路由连接的第一信号来处理所述信号，以产生用于输出到单个路由电连接的第二信号，所述单个路由连接通到所述DIB上的资源。

15.根据权利要求14所述的系统，其中所述第二信号具有比所述第一信号中的每个信号更高的比特率。

16.根据权利要求1所述的系统，其中所述资源包括所述DIB上的电触点。

17.根据权利要求1所述的系统，其中所述DIB上的每个站点具有相同的配置。