[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 201980012774.7 申请日: 2019-02-14
公开(公告)号: CN111712911A 公开(公告)日: 2020-09-25
发明(设计)人: 长友春敏 申请(专利权)人: 株式会社吉川希斯泰克
主分类号: H01L21/822 分类号: H01L21/822;H01L21/82;H01L21/8236;H01L21/8238;H01L27/04;H01L27/088;H01L27/092
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 于靖帅;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,其特征在于,

该半导体装置包含:

多个第1信号输出电路,其具有第1晶体管和第2晶体管,输出所述第1晶体管与所述第2晶体管的连接点的电压,所述第1晶体管和所述第2晶体管串联连接在提供第1电压的信号线与提供比所述第1电压低的第2电压的信号线之间,并且各自的栅极被提供规定的电压;以及

多个第2信号输出电路,其具有第3晶体管和第4晶体管,输出所述第3晶体管与所述第4晶体管的连接点的电压,所述第3晶体管和所述第4晶体管串联连接在提供所述第1电压的信号线与提供所述第2电压的信号线之间,并且各自的栅极被提供规定的电压,所述第3晶体管与所述第1晶体管布局相同但特性不同,所述第4晶体管与所述第2晶体管布局相同但特性不同。

2.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,

所述第1晶体管和所述第3晶体管与提供所述第1电压的信号线连接,所述第1晶体管的阈值电压与所述第3晶体管的阈值电压不同,所述第2晶体管的阈值电压与所述第4晶体管的阈值电压不同。

3.根据权利要求2所述的半导体装置,其特征在于,

所述第1电压是电源电压,

所述第2电压是基准电压,

所述半导体装置包含:

所述第1信号输出电路,在该第1信号输出电路中,所述第1晶体管的阈值电压比所述电源电压高,所述第1晶体管和所述第2晶体管是栅极与提供所述第1电压的信号线连接的N型晶体管;以及

所述第2信号输出电路,在该第2信号输出电路中,所述第4晶体管的阈值电压比所述电源电压高,所述第3晶体管和所述第4晶体管是栅极与提供所述第1电压的信号线连接的N型晶体管。

4.根据权利要求2或3所述的半导体装置,其特征在于,

所述半导体装置具有以二极管的方式连接在提供所述第1电压的信号线与提供第3电压的信号线之间的N型晶体管,

所述第1晶体管和所述第2晶体管串联连接在提供所述第3电压的信号线与提供所述第2电压的信号线之间,

所述第3晶体管和所述第4晶体管串联连接在提供所述第3电压的信号线与提供所述第2电压的信号线之间。

5.根据权利要求2至4中的任意一项所述的半导体装置,其特征在于,

所述第1电压是电源电压,

所述第2电压是基准电压,

所述半导体装置包含:

所述第1信号输出电路,在该第1信号输出电路中,所述第1晶体管的阈值电压比(所述第2电压-所述第1电压)的值低,所述第1晶体管和所述第2晶体管是栅极与提供所述第2电压的信号线连接的P型晶体管;以及

所述第2信号输出电路,在该第2信号输出电路中,所述第4晶体管的阈值电压比(所述第2电压-所述第1电压)的值低,所述第3晶体管和所述第4晶体管是栅极与提供所述第2电压的信号线连接的P型晶体管。

6.根据权利要求2至5中的任意一项所述的半导体装置,其特征在于,

所述半导体装置包含:

所述第1信号输出电路,在该第1信号输出电路中,所述第1晶体管和所述第2晶体管分别以二极管的方式连接;以及

所述第2信号输出电路,在该第2信号输出电路中,所述第3晶体管和所述第4晶体管分别以二极管的方式连接。

7.根据权利要求2至6中的任意一项所述的半导体装置,其特征在于,

所述半导体装置包含:

所述第1信号输出电路,在该第1信号输出电路中,所述第1晶体管为耗尽型,所述第2晶体管为增强型;以及

所述第2信号输出电路,在该第2信号输出电路中,所述第3晶体管为增强型,所述第4晶体管为耗尽型。

8.根据权利要求2至7中的任意一项所述的半导体装置,其特征在于,

所述半导体装置包含:

所述第1信号输出电路,在该第1信号输出电路中,所述第1晶体管是高耐压晶体管,所述第2晶体管是耐压比所述第1晶体管的耐压低的低耐压晶体管;以及

所述第2信号输出电路,在该第2信号输出电路中,所述第3晶体管是所述低耐压晶体管,所述第4晶体管是所述高耐压晶体管。

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