[发明专利]使用缺陷模式检测的熔断器控制系统和方法

权利要求书

1.一种使用缺陷模式检测的熔断器控制系统，所述系统包括：

过电流熔断器，当电路中流动的电流的值等于或大于阈值时所述过电流熔断器被熔断；

热量产生单元，所述热量产生单元被定位为靠近并通过导热导体连接到所述过电流熔断器，并且产生热量以熔断所述过电流熔断器；

保护壳，所述过电流熔断器和所述热量产生单元被设置在所述保护壳中，其中所述保护壳被填充有能够防止当所述过电流熔断器被熔断的过程中引起的电路损耗的填充剂；

开关单元，所述开关单元改变施加到所述热量产生单元的电流的导通状态；以及

控制单元，所述控制单元检测缺陷模式信号，并且当检测到所述缺陷模式信号时控制所述开关单元的操作状态以变为接通状态，

其中，所述过电流熔断器、所述热量产生单元、所述开关单元和所述控制单元被集成以形成一模块，

其中，当所述过电流熔断器已经被熔断时，所述控制单元不将所述开关单元的操作状态控制为变为接通状态。

2.根据权利要求1所述的使用缺陷模式检测的熔断器控制系统，进一步包括：

温度测量单元，所述温度测量单元测量所述电路中的电源单元的温度，并且然后将测量值发送到所述控制单元；

电压测量单元，所述电压测量单元测量所述电路中的所述电源单元的电压，并且然后将测量值发送到所述控制单元：以及

电流测量单元，所述电流测量单元测量在所述电路中流动的电流，并且然后将测量值发送到所述控制单元。

3.根据权利要求2所述的使用缺陷模式检测的熔断器控制系统，其中，

所述缺陷模式信号包括下述中的至少一个：当通过所述电压测量单元的测量获得的测量值大于阈值电压值时由所述控制单元产生的第一缺陷模式信号；当通过所述电流测量单元的测量获得的测量值大于阈值电流值时由所述控制单元产生的第二缺陷模式信号；当通过所述温度测量单元的测量获得的测量值大于阈值温度时由所述控制单元产生的第三缺陷模式信号；以及，当除产生所述第一缺陷模式信号至所述第三缺陷模式信号的情况之外所述过电流熔断器被手动熔断时由所述控制单元自主地产生的第四缺陷模式信号。

4.根据权利要求2所述的使用缺陷模式检测的熔断器控制系统，其中，

所述电流测量单元被电连接到所述电路上的电阻器，以测量所述电阻器的电流值。

5.一种使用缺陷模式检测的熔断器控制方法，所述方法包括：

检测缺陷模式信号，并且当检测到所述缺陷模式信号时通过控制单元来控制开关单元的操作状态以变为接通状态；

通过由所述控制单元使所述开关单元的操作状态处于接通状态来将电流施加到热量产生单元；以及

当在电路中流动的电流的值等于或大于阈值时，通过被定位为靠近并通过导热导体连接到过电流熔断器的所述热量产生单元产生的热量来熔断被熔断的所述过电流熔断器；

其中，所述过电流熔断器和所述热量产生单元被设置在保护壳中，其中所述保护壳被填充有能够防止当所述过电流熔断器被熔断的过程中引起的电路损耗的填充剂；

其中，所述过电流熔断器、所述热量产生单元、所述开关单元和所述控制单元被集成以形成一模块，

其中，当检测到所述缺陷模式信号时通过所述控制单元控制所述开关单元的操作状态以变为接通状态包括：当所述过电流熔断器已经被熔断时，不通过所述控制单元将所述开关单元的操作状态控制为变为接通状态。

6.根据权利要求5所述的使用缺陷模式检测的熔断器控制方法，还包括：

通过温度测量单元测量所述电路中的电源单元的温度，并且然后将测量值发送到所述控制单元；

通过电压测量单元测量所述电路中的所述电源单元的电压，并且然后将测量值发送到所述控制单元；以及

通过电流测量单元测量在所述电路中流动的电流，并且然后将测量值发送到所述控制单元。

7.根据权利要求6所述的使用缺陷模式检测的熔断器控制方法，其中，

通过所述电流测量单元测量在所述电路中流动的电流，并且然后将测量值发送到所述控制单元包括：通过电连接到所述电路上的电阻器的所述电流测量单元来测量所述电阻器的电流值。