[发明专利]用于在制备分离器活性层之前定量构成分离器活性层的胺化合物的方法、用于定量分离器活性层中的聚酰胺或未反应的胺化合物的方法、以及用于设定分离器活性层的制备条件或用于分离器活性层的制备条件的确立标准的方法

权利要求书

1.一种用于在形成膜活性层之前定量形成所述膜活性层的胺化合物的方法，所述方法包括：

在支撑体上涂覆包含胺化合物的组合物；以及

使用能量色散光谱(EDS)法通过距离所述支撑体上的经涂覆表面的深度分析所述胺化合物的分布。

2.根据权利要求1所述的用于在形成膜活性层之前定量形成所述膜活性层的胺化合物的方法，其中所述EDS法使用复数个线扫描。

3.根据权利要求2所述的用于在形成膜活性层之前定量形成所述膜活性层的胺化合物的方法，其中所述复数个线扫描的每条线具有400个点或更多。

4.根据权利要求3所述的用于在形成膜活性层之前定量形成所述膜活性层的胺化合物的方法，其中所述EDS法使用10条线或更多条线，并且对于每条线扫描5次或更多次。

5.一种用于定量膜活性层中的聚酰胺或未反应的胺化合物的方法，所述方法包括：

在支撑体上涂覆包含胺化合物的组合物；

通过在其上涂覆有所述包含胺化合物的组合物的所述支撑体的表面上涂覆包含酰卤化合物的组合物通过使聚酰胺界面聚合来制备膜活性层；以及

使用能量色散光谱(EDS)法通过距离所述支撑体上的所述聚酰胺在其上界面聚合的表面的深度分析所述聚酰胺或所述未反应的胺化合物的分布。

6.根据权利要求5所述的用于定量膜活性层中的聚酰胺或未反应的胺化合物的方法，其中所述EDS法使用复数个线扫描。

7.根据权利要求6所述的用于定量膜活性层中的聚酰胺或未反应的胺化合物的方法，其中所述复数个线扫描的每条线具有400个点或更多。

8.根据权利要求7所述的用于定量膜活性层中的聚酰胺或未反应的胺化合物的方法，其中所述EDS法使用10条线或更多条线，并且对于每条线扫描5次或更多次。

9.一种用于确定用于膜活性层的制造条件的设定标准的方法，所述方法包括：

a)使用根据权利要求1至4中任一项所述的方法在支撑体上涂覆包含胺化合物的组合物，然后通过深度对所述胺化合物的分布进行定量；

b)通过在其上涂覆有所述包含胺化合物的组合物的所述支撑体的表面上涂覆包含酰卤化合物的组合物通过使聚酰胺界面聚合来制备膜活性层；

c)通过评估所制备的膜活性层的性能来得出第一评估结果；

d)通过重复a)至d)一次或更多次来得出第二或更高的评估结果，不同之处在于将a)中在支撑体上涂覆包含胺化合物的组合物中的条件的至少一部分调整为与上述a)不同；以及

e)通过比较所述第一评估结果和所述第二或更高的评估结果，通过距离所述支撑体上的经涂覆表面的深度确定所述胺化合物的分布以制备具有更好的性能的膜活性层。

10.根据权利要求9所述的用于确定用于膜活性层的制造条件的设定标准的方法，其中a)与d)之间的不同条件包括以下中的至少一者：所述支撑体的类型；所述支撑体的水分含量；所述包含胺化合物的组合物的固含量；所述包含胺化合物的组合物的涂覆量；用于涂覆所述包含胺化合物的组合物的方法；以及所述支撑体或所述包含胺化合物的组合物中添加剂的存在。

11.一种用于确定用于膜活性层的制造条件的设定标准的方法，所述方法包括：

f)使用根据权利要求5至8中任一项所述的方法制备膜活性层，然后通过深度对所述膜活性层中的聚酰胺或未反应的胺化合物的分布进行定量；

g)通过评估f)中制备的所述膜活性层的性能来得出第一评估结果；

h)通过在将f)中膜活性层的制备中的条件的至少一部分调整为与上述f)不同之后重复f)至h)一次或更多次来得出第二或更高的评估结果；以及

i)通过比较所述第一评估结果和所述第二或更高的评估结果，通过距离所述支撑体上的所述聚酰胺在其上界面聚合的表面的深度确定所述膜活性层中的所述聚酰胺或所述未反应的胺化合物的分布以制备具有更好的性能的膜活性层。