[实用新型]测距装置

权利要求书

1.一种测距装置，其特征在于，包括：

底座；

第一基板，用于设置光发射器；

第二基板，用于设置光接收器；

光学结构，用于将所述光发射器发射的第一光脉冲导引至探测物，并将所述探测物反射的至少部分第二光脉冲导引至所述光接收器；

连接结构，设于所述底座上；所述连接结构包括多个支架，所述第一基板、所述第二基板和所述光学结构分别设于多个所述支架上；

其中，多个所述支架各自分离地设置在所述底座上。

2.根据权利要求1所述的测距装置，其特征在于，各所述支架的线性膨胀系数均大于所述底座的线性膨胀系数；和/或，各所述支架的线性膨胀系数相同。

3.根据权利要求1所述的测距装置，其特征在于，每一所述支架均包括:

第一连接件，设于所述底座上；

第二连接件，设于所述第一连接件上，且连接于所述第一基板、所述第二基板和至少部分所述光学结构中的其中一者。

4.根据权利要求3所述的测距装置，其特征在于，各所述第一连接件的线性膨胀系数均与所述底座的线性膨胀系数相同；和/或，各所述第二连接件的线性膨胀系数均大于各所述第一连接件的线性膨胀系数。

5.根据权利要求4所述的测距装置，其特征在于，各所述第二连接件的线性膨胀系数相同。

6.根据权利要求1所述的测距装置，其特征在于，所述光学结构包括：

准直元件，用于准直所述第一光脉冲；

和/或，所述光学结构包括：

光学元件，用于改变所述光发射器产生的第一光脉冲的光路方向；

光学部件，用于将所述第一光脉冲和所述第二光脉冲分离；

准直元件，用于准直所述第一光脉冲；所述光发射器、所述光学元件、所述光学部件和所述准直元件沿发射光路依次设置；

和/或，所述光学结构包括：

光学元件，用于改变所述光发射器产生的第一光脉冲的光路方向；

光学部件，用于将所述第一光脉冲和所述第二光脉冲分离；

准直元件，用于准直所述第一光脉冲；

光学器件，用于改变所述光学部件反射的所述第二光脉冲；所述准直元件、所述光学部件、所述光学器件和所述光接收器沿所述第二光脉冲的反射方向依次设置。

7.根据权利要求6所述的测距装置，其特征在于，

各所述支架在所述底座上的安装面位于同一预设平面上；和/或，所述准直元件的光轴与所述预设平面大致平行。

8.根据权利要求6所述的测距装置，其特征在于，多个所述支架包括：

发射支架，所述第一基板设于所述发射支架上；

接收支架，所述第二基板设于所述接收支架上；

光学支架，所述光学结构设于所述光学支架上。

9.根据权利要求8所述的测距装置，其特征在于，所述光学支架包括：

准直子架体，所述准直元件设于所述准直子架体上；

和/或，所述光学支架包括：

第一子架体，所述光学元件设于所述第一子架体上；

第二子架体，所述光学部件设于所述第二子架体上；

准直子架体，所述准直元件设于所述准直子架体上；

和/或，所述光学支架包括：

第一子架体，所述光学元件设于所述第一子架体上；

第二子架体，所述光学部件设于所述第二子架体上；

准直子架体，所述准直元件设于所述准直子架体上；

第三子架体，所述光学器件设于所述第三子架体上。

10.根据权利要求9所述的测距装置，其特征在于，所述发射支架、所述接收支架、所述第一子架体、所述第二子架体、所述准直子架体和所述第三子架体的线性膨胀系数均大于所述底座的线性膨胀系数；和/或，所述发射支架、所述接收支架、所述第一子架体、所述第二子架体、所述准直子架体和所述第三子架体的线性膨胀系数相同。