[实用新型]测距装置有效

专利信息
申请号: 201922495017.X 申请日: 2019-12-31
公开(公告)号: CN212275966U 公开(公告)日: 2021-01-01
发明(设计)人: 吴敬阳 申请(专利权)人: 深圳市大疆创新科技有限公司
主分类号: G01S7/481 分类号: G01S7/481;G01S17/08
代理公司: 深圳市力道知识产权代理事务所(普通合伙) 44507 代理人: 何姣
地址: 518057 广东省深圳市南山区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测距 装置
【说明书】:

实用新型提供了一种测距装置,该测距装置包括底座、第一基板、第二基板、光学结构和连接结构;第一基板用于设置光发射器;第二基板用于设置光接收器;光学结构用于将光发射器发射的第一光脉冲导引至探测物,并将探测物反射的至少部分第二光脉冲导引至光接收器;连接结构设于底座上;连接结构包括多个支架,第一基板、第二基板和光学结构分别设于多个支架上;其中,多个支架各自分离地设置在底座上,以减小测距装置的量程和测量精度受热变形的影响。

技术领域

本实用新型涉及测距设备技术领域,尤其涉及一种测距装置。

背景技术

激光雷达等测距装置是以发射光脉冲来探测探测物的位置、速度、方向等特征量的测距系统,因其分辨率高、隐蔽性好、抗有源干扰能力强、低空探测性能好、体积小及重量轻等优势,被广泛应用于无人飞行器、智能机器人、自动驾驶等领域。

测距装置内部包含激光发射器、接收器和准直透镜。这些激光发射器、接收器、光学镜片等光学元器件之间的位置关系决定了激光测距装置的量程、测量精度等主要性能指标。然而,现有的测距在高低温环境下,光学元器件的位置关系会发生明显变化,导致测距装置的量程和测量精度受影响。

实用新型内容

基于此,本实用新型提供了一种测距装置,旨在减小测距装置的量程和测量精度受热变形的影响。

根据本实用新型,本实用新型提供了一种测距装置,包括:

底座;

第一基板,用于设置光发射器;

第二基板,用于设置光接收器;

光学结构,用于将所述光发射器发射的第一光脉冲导引至所述探测物,并将所述探测物反射的至少部分第二光脉冲导引至所述光接收器;

连接结构,设于所述底座上;所述连接结构包括多个支架,所述第一基板、所述第二基板和所述光学结构分别设于多个所述支架上;

其中,多个所述支架各自分离地设置在所述底座上。

本实用新型实施例提供了一种测距装置,由于各支架各自分离,即各支架两两之间都是独立设在底座上的,相互之间没有直接的连接,如此能够减小测距装置的量程和测量精度受温度的影响,避免测距装置受热变形的影响,保证测距装置在高低温环境下的性能水平与常温环境下的性能水平相近。

应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本实用新型。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请一实施例提供的测距系统的结构示意图;

图2是本申请一实施例提供的测距装置的结构示意图;

图3是本申请一实施例提供的测距装置的剖面示意图;

图4是本申请一实施例提供的第一光脉冲和第二光脉冲的光路折叠示意图;

图5是本申请一实施例提供的第一光脉冲和第二光脉冲的光路展开示意图;

图6是本申请一实施例提供的测距装置在一角度的分解示意图;

图7是本申请一实施例提供的测距装置在另一角度的分解示意图;

图8是本申请一实施例提供的测距装置的部分示意图,其中示出了底座、部分支架和部分光学结构,且测距装置处于第一温度环境下;

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