[实用新型]一种IC芯片载带表观缺陷检测装置

说明书

本实用新型实施例公开了一种IC芯片载带表观缺陷检测装置，涉及检查设备技术领域，其技术方案要点包括工作台、设置在工作台上且用于传送载带的入料装置、出料装置，在所述入料装置和出料装置之间设置有对载带外观进行检测的外观检测装置；所述外观检测装置包括竖直设置在载带一侧的安装板，位于所述安装板上且用于拍摄载带的识别相机，在所述安装板上且位于所述识别相机两侧设置有光源，所述光源照射载带的光照点与载带上识别相机拍摄点相同。本实用新型方案用以解决现有技术中IC芯片载带表面进行缺陷检测时人工检测效率低、漏检滤高的问题。

技术领域

本实用新型实施例涉及检查设备技术领域，具体涉及一种IC芯片载带表观缺陷检测装置。

背景技术

IC芯片载带在生产过程中需要对其表面进行缺陷检测，现在国内载带生产厂及芯片条带封测厂均采用人工检测。

人工在检测过程中，一般是以3m/min的速度进行检测,人工检测可达到约75万片/天，在长时间检测过程中，人工检测易疲劳，从而出现漏检率高，易造成客户投诉降低产品信誉度，此外，在检测后，信息集成较为复杂且耗时。

实用新型内容

为此，本实用新型实施例提供一种IC芯片载带表观缺陷检测装置，以解决现有技术中IC芯片载带表面进行缺陷检测时人工检测效率低、漏检滤高的问题。

为了实现上述目的，本实用新型实施例提供如下技术方案：根据本实用新型实施例中，其公开了一种IC芯片载带表观缺陷检测装置，包括工作台、设置在工作台上且用于传送载带的入料装置、出料装置，在所述入料装置和出料装置之间设置有对载带外观进行检测的外观检测装置；所述外观检测装置包括竖直设置在载带一侧的安装板，位于所述安装板上且用于拍摄载带的识别相机，在所述安装板上且位于所述识别相机两侧设置有光源，所述光源照射载带的光照点与载带上识别相机拍摄点相同。

进一步地，所述外观检测装置在载带上侧间隔设置有两组，所述外观检测装置在载带下侧设置有一组。

进一步地，所述入料装置包括设置在所述工作台上的若干传送齿轮、所述入料装置包括设置在所述工作台上的若干传送齿轮、以及设置在工作台上且位于外观检测装置远离传送齿轮一侧用于对载带进行驱动的传动组件。

进一步地，所述传动组件包括安装架，设置在所述安装架上的主动齿轮、以及转动设置在所述安装架上且可转动扣合在所述安装架上的扣合架、以及带动主动齿轮转动的电机。所述主动齿轮包括辊筒、以及设置在所述辊筒圆周方向的齿盘，所述齿盘间隔设置有两组，所述齿盘与载带宽度方向的边孔一一扣合；在所述扣合架上设置有压持轮，所述压持轮的轴线两端分别间隔设置有两组凸环，两组凸环之间形成嵌合槽，当扣合架转动向安装架时，所述齿盘外端部嵌合在嵌合槽内。

进一步地，在所述入料装置和所述外观检测装置之间、所述外观检测装置和出料装置之间分别设置有缓冲组件。

进一步地，所述缓冲组件包括间隔设置的第一缓冲轮、以及第二缓冲轮，在所述第一缓冲轮和第二缓冲轮之间形成缓冲腔。

进一步地，在所述外观检测装置靠近入料装置的一侧设置有清洁检查装置，所述清洁检查装置包括设置在所述工作台上且用于对载带两侧边孔进行检测的光感传感器、以及设置在所述工作台上用于对载带上下两侧进行清扫的毛刷。

本实用新型实施例具有如下优点：

本实用新型实施例通过设置的IC芯片载带表观缺陷检测装置，可以使用设备自动对载带表观缺陷进行检测，相比于人工检测，速度更快，同时，机器检测效果稳定，无漏检，保证产品出货质量。相比于人工检测，极大的节约了劳动成本。

附图说明