[实用新型]一种IC芯片载带表观缺陷检测装置

权利要求书

1.一种IC芯片载带表观缺陷检测装置，其特征在于：包括工作台(1)、设置在工作台(1)上且用于传送载带的入料装置(2)、出料装置(3)，在所述入料装置(2)和出料装置(3)之间设置有对载带外观进行检测的外观检测装置(4)；

所述外观检测装置(4)包括竖直设置在载带一侧的安装板(41)，位于所述安装板(41)上且用于拍摄载带的识别相机(42)，在所述安装板(41)上且位于所述识别相机(42)两侧设置有光源(43)，所述光源(43)照射载带的光照点与载带上识别相机(42)拍摄点相同。

2.根据权利要求1所述的IC芯片载带表观缺陷检测装置，其特征在于：所述外观检测装置(4)在载带上侧间隔设置有两组，所述外观检测装置(4)在载带下侧设置有一组。

3.根据权利要求1所述的IC芯片载带表观缺陷检测装置，其特征在于：所述入料装置(2)包括设置在所述工作台(1)上的若干传送齿轮(21)、以及设置在工作台(1)上且位于外观检测装置(4)远离传送齿轮(21)一侧用于对载带进行驱动的传动组件(22)。

4.根据权利要求3所述的IC芯片载带表观缺陷检测装置，其特征在于：所述传动组件(22)包括安装架(221)，设置在所述安装架(221)上的主动齿轮(222)、以及转动设置在所述安装架(221)上且可转动扣合在所述安装架(221)上的扣合架(223)、以及带动主动齿轮(222)转动的电机(225)；

所述主动齿轮(222)包括辊筒(2221)、以及设置在所述辊筒(2221)圆周方向的齿盘(2222)，所述齿盘(2222)间隔设置有两组，所述齿盘(2222)与载带宽度方向的边孔一一扣合；

在所述扣合架(223)上设置有压持轮(224)，所述压持轮(224)的轴线两端分别间隔设置有两组凸环(2241)，两组凸环(2241)之间形成嵌合槽(2242)，当扣合架(223)转动向安装架(221)时，所述齿盘(2222)外端部嵌合在嵌合槽(2242)内。

5.根据权利要求1所述的IC芯片载带表观缺陷检测装置，其特征在于：在所述入料装置(2)和所述外观检测装置(4)之间、所述外观检测装置(4)和出料装置(3)之间分别设置有缓冲组件(5)。

6.根据权利要求5所述的IC芯片载带表观缺陷检测装置，其特征在于：所述缓冲组件(5)包括间隔设置的第一缓冲轮(51)、以及第二缓冲轮(52)，在所述第一缓冲轮(51)和第二缓冲轮(52)之间形成缓冲腔(53)。

7.根据权利要求5所述的IC芯片载带表观缺陷检测装置，其特征在于：在所述外观检测装置(4)靠近入料装置(2)的一侧设置有清洁检查装置(6)，所述清洁检查装置(6)包括设置在所述工作台(1)上且用于对载带两侧边孔进行检测的光感传感器(61)、以及设置在所述工作台(1)上用于对载带上下两侧进行清扫的毛刷(62)。