[实用新型]一种用于电子设备的老化测试装置

说明书

本实用新型公开了一种用于电子设备的老化测试装置，包括承载座，承载座上端连接有一对围板，且一对围板之间连接有多个隔板，隔板内侧设有固定板，承载座侧端开凿有多个与固定板相对应的螺孔，且螺孔中连接有长推进螺杆，长推进螺杆上连接有推进螺母，承载座内部开凿有与推进螺母相匹配的滑孔，推进螺母上端连接有滑块，承载座上开凿有与滑块相匹配的滑孔，且滑孔与推进腔相连通，长推进螺杆上固定连接有轴承，且轴承的外壁与螺孔固定连接，长推进螺杆位于推进腔内侧的端部连接有限位块，且限位块的直径大于推进螺母的孔径。本实用新型结构简单，操作方便，可有效防止待测试电子元件的晃动，提高测试准确度。

技术领域

本实用新型涉及老化测试装置技术领域，尤其涉及一种用于电子设备的老化测试装置。

背景技术

在相关技术中，电子设备在出厂之前需要对其进行老化测试以检测电子设备的使用性能。当电子设备进行老化测试时，将多个电子设备集中放置在老化架上。由于老化架设在专用的隔离式老化房内，电子设备需要远距离搬运，从而延长了电子设备的产品周转和生产周期，影响出货时间。而且，老化架上的电子设备集中放置，影响质检人员的抽样的随机性，从而降低了不良品的拦截范围。

为改善上述问题，中国专利授权号为CN209132355U公开了一种用于电子设备的老化测试装置，包括箱体、测试装置和开关件，箱体内具有放置空间，箱体上设有与放置空间相连通的取放口，箱体上设有用于观察放置空间内部情况的观察窗口，测试装置和电子设备均设在放置空间内，电子设备与测试装置电连接，开关件可活动地设在箱体上以打开或关闭取放口。根据本实用新型的老化测试装置，老化测试装置形成为箱体式结构，结构简单、密封性能好，可以降低电子设备在进行老化测试的工作噪声。而且，老化测试装置可以灵活地分布在生产线上，从而可以方便电子设备的取放，降低物流成本，还可以通过观察窗口观察电子设备的老化测试情况，操作比较方便。

但是上述测试装置未设置固定待测电子元件的结构，电子元件在测试过程中容易受到装置的振动而晃动，极易造成连接处的松动，从而降低了测试准确度。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种用于电子设备的老化测试装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种用于电子设备的老化测试装置，包括承载座，所述承载座上端连接有一对围板，且一对围板之间连接有多个隔板，所述隔板内侧设有固定板，所述承载座侧端开凿有多个与固定板相对应的螺孔，且螺孔中连接有长推进螺杆，所述长推进螺杆上连接有推进螺母，所述承载座内部开凿有与推进螺母相匹配的滑孔，所述推进螺母上端连接有滑块，所述承载座上开凿有与滑块相匹配的滑孔，且滑孔与推进腔相连通。

优选的，所述长推进螺杆上固定连接有轴承，且轴承的外壁与螺孔固定连接。

优选的，所述长推进螺杆位于推进腔内侧的端部连接有限位块，且限位块的直径大于推进螺母的孔径。

优选的，所述承载座自上而下开凿有多个散热孔，且散热孔位于一对隔板之间。

优选的，所述承载座下端连接有散热箱，且散热箱内底端连接有散热风扇。

优选的，所述散热箱上端连接有固定框，且固定框与承载座之间连接有锁紧螺栓。

与现有技术相比，本实用新型提供了一种用于电子设备的老化测试装置，具备以下有益效果：

1.通过设置的固定板、长推进螺杆和推进螺母，长推进螺杆转动驱动推进螺母直线移动，推进螺母通过滑块带着固定板贴近待测试电子元件表面并夹紧待测试电子元件，可有效防止待测试电子元件的晃动，提高测试准确度。

2.通过在承载座自上而下开凿多个散热孔，且散热孔位于一对隔板之间，提高散热效果。