[实用新型]一种用于电子设备的老化测试装置

权利要求书

1.一种用于电子设备的老化测试装置，包括承载座(1)，其特征在于，所述承载座(1)上端连接有一对围板(2)，且一对围板(2)之间连接有多个隔板(3)，所述隔板(3)内侧设有固定板(4)，所述承载座(1)侧端开凿有多个与固定板(4)相对应的螺孔，且螺孔中连接有长推进螺杆(5)，所述长推进螺杆(5)上连接有推进螺母(8)，所述承载座(1)内部开凿有与推进螺母(8)相匹配的滑孔(13)，所述推进螺母(8)上端连接有滑块(6)，所述承载座(1)上开凿有与滑块(6)相匹配的滑孔(13)，且滑孔(13)与推进腔(7)相连通。

2.根据权利要求1所述的一种用于电子设备的老化测试装置，其特征在于，所述长推进螺杆(5)上固定连接有轴承(14)，且轴承(14)的外壁与螺孔固定连接。

3.根据权利要求2所述的一种用于电子设备的老化测试装置，其特征在于，所述长推进螺杆(5)位于推进腔(7)内侧的端部连接有限位块(9)，且限位块(9)的直径大于推进螺母(8)的孔径。

4.根据权利要求1所述的一种用于电子设备的老化测试装置，其特征在于，所述承载座(1)自上而下开凿有多个散热孔(15)，且散热孔(15)位于一对隔板(3)之间。

5.根据权利要求4所述的一种用于电子设备的老化测试装置，其特征在于，所述承载座(1)下端连接有散热箱(10)，且散热箱(10)内底端连接有散热风扇(11)。

6.根据权利要求5所述的一种用于电子设备的老化测试装置，其特征在于，所述散热箱(10)上端连接有固定框(16)，且固定框(16)与承载座(1)之间连接有锁紧螺栓(12)。