[实用新型]一种便于固定电子元件的电子元件高温反偏寿命测试机

说明书

本实用新型公开了一种便于固定电子元件的电子元件高温反偏寿命测试机，包括控制箱、高温箱和高温反偏差老化板，控制箱正面的顶部固定设有显示屏，高温箱内壁的两侧分别通过方形滑块与两个高温反偏差老化板的两侧滑动连接，本实用新型一种便于固定电子元件的电子元件高温反偏寿命测试机，该种便于固定电子元件的电子元件高温反偏寿命测试机设置有固定板和销钉，可将固定板和高温反偏差老化板固定连接，接着将电子元件引脚与引脚插孔穿插连接，然后按压活动块，活动块对通槽内的夹紧块造成挤压，使夹紧块一端的半圆形卡槽与电子元件的引脚卡合连接，进而将电子元件牢固固定，操作方便，可有效提高电子元件高温反偏寿命测试机的实用性。

技术领域

本实用新型涉及电子元件测试技术领域，具体为一种便于固定电子元件的电子元件高温反偏寿命测试机。

背景技术

电子元件(electronic component)，是电子电路中的基本元素，通常是个别封装，并具有两个或以上的引线或金属接点。电子元件须相互连接以构成一个具有特定功能的电子电路，例如：放大器、无线电接收机、振荡器等，连接电子元件常见的方式之一是焊接到印刷电路板上。电子元件也许是单独的封装(电阻器、电容器、电感器、晶体管、二极管等)，或是各种不同复杂度的群组，例如：集成电路(运算放大器、排阻、逻辑门等)。

现有电子元件通过可靠性试验，可以确定电子产品在各种环境条件下工作或存储时的可靠性特征量，为使用、生产和设计提供有用的数据；也可以暴露产品在设计、原材料和工艺流程等方面存在的问题。通过失效分析、质量控制等一系列反馈措施，可使产品存在的问题逐步解决，提高产品可靠性，在寿命筛选中，需使用电子元件高温反偏寿命测试机对电子元件进行高温反偏测试。

现有电子元件高温反偏寿命测试机中的待测试电子元件均是直接插在高温反偏差老化板上，但此种插接方式易造成电子元件脱落，导致电子元件不便固定，进而导致电子元件高温反偏寿命测试机的实用性降低；现有电子元件高温反偏寿命测试机无法同时对多个电子元件进行高温反偏寿命测试，造成电子元件高温反偏寿命测试机的工作效率降低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种便于固定电子元件的电子元件高温反偏寿命测试机，以解决上述背景技术提出的目前市场上的电子元件高温反偏寿命测试机不便固定电子元件的问题。

本实用新型解决其技术问题是通过以下技术方案实现的：

一种便于固定电子元件的电子元件高温反偏寿命测试机，包括控制箱、高温箱和高温反偏差老化板，所述控制箱正面的顶部固定设有显示屏，所述控制箱正面的中部固定设有操作键盘，所述控制箱的一侧固定设有高温箱，所述高温箱正面的一边侧铰接有箱门，所述高温箱内壁的两侧分别通过方形滑块与两个高温反偏差老化板的两侧滑动连接，两个所述高温反偏差老化板的顶端均匀开设有若干引脚插槽，两个所述高温反偏差老化板顶端的四个边角分别通过销钉与两个固定板顶端的四个边角固定连接，两个所述固定板的顶端均匀开设有二十四个引脚插孔，两个相邻所述引脚插孔之间和一侧均开设有凹槽，三十六个所述凹槽的内部均活动连接有活动块，其中十二个所述活动块的两侧和另外二十四个活动块的一侧分别与四十八个夹紧块的一端接触连接，其中十二所述凹槽内壁的两侧和另外二十四个凹槽内壁的一侧均开设有通槽，且通槽的一端与夹紧块的一端穿插连接，四十八个所述夹紧块两侧的中部分别通过复位弹簧与四十八个通槽内壁两侧的中部固定连接，四十八个所述夹紧块的另一端均开设有半圆形卡槽，且两个相邻夹紧块之间接触连接。

而且，所述控制箱正面的底部开设有放置槽，所述放置槽两侧的内壁分别通过方形滑块与三个放置板的两侧滑动连接，三个所述放置板的顶端均匀开设有若干引脚插孔。

而且，所述控制箱底端的两个边角和高温箱底端的两个边角均固定设有万向轮。

而且，所述箱门正面的中部固定设有观察窗口。