[实用新型]一种便于固定电子元件的电子元件高温反偏寿命测试机有效
| 申请号： | 201922343872.9 | 申请日： | 2019-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN211577295U | 公开（公告）日： | 2020-09-25 |
| 发明（设计）人： | 朱永兵 | 申请（专利权）人： | 天津海瑞电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 | 代理人： | 刘玲 |
| 地址： | 300384 天津市西青区华苑产业区*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 便于 固定 电子元件 高温 寿命 测试 | ||
1.一种便于固定电子元件的电子元件高温反偏寿命测试机，包括控制箱(1)、高温箱(7)和高温反偏差老化板(10)，其特征在于：所述控制箱(1)正面的顶部固定设有显示屏(2)，所述控制箱(1)正面的中部固定设有操作键盘(3)，所述控制箱(1)的一侧固定设有高温箱(7)，所述高温箱(7)正面的一边侧铰接有箱门(8)，所述高温箱(7)内壁的两侧分别通过方形滑块与两个高温反偏差老化板(10)的两侧滑动连接，两个所述高温反偏差老化板(10)的顶端均匀开设有若干引脚插槽(13)，两个所述高温反偏差老化板(10)顶端的四个边角分别通过销钉(14)与两个固定板(11)顶端的四个边角固定连接，两个所述固定板(11)的顶端均匀开设有二十四个引脚插孔(6)，两个相邻所述引脚插孔(6)之间和一侧均开设有凹槽(15)，三十六个所述凹槽(15)的内部均活动连接有活动块(12)，其中十二个所述活动块(12)的两侧和另外二十四个活动块(12)的一侧分别与四十八个夹紧块(17)的一端接触连接，其中十二所述凹槽(15)内壁的两侧和另外二十四个凹槽(15)内壁的一侧均开设有通槽(16)，且通槽(16)的一端与夹紧块(17)的一端穿插连接，四十八个所述夹紧块(17)两侧的中部分别通过复位弹簧(18)与四十八个通槽(16)内壁两侧的中部固定连接，四十八个所述夹紧块(17)的另一端均开设有半圆形卡槽(19)，且两个相邻夹紧块(17)之间接触连接。
2.根据权利要求1所述的一种便于固定电子元件的电子元件高温反偏寿命测试机，其特征在于：所述控制箱(1)正面的底部开设有放置槽(4)，所述放置槽(4)两侧的内壁分别通过方形滑块与三个放置板(5)的两侧滑动连接，三个所述放置板(5)的顶端均匀开设有若干引脚插孔(6)。
3.根据权利要求1所述的一种便于固定电子元件的电子元件高温反偏寿命测试机，其特征在于：所述控制箱(1)底端的两个边角和高温箱(7)底端的两个边角均固定设有万向轮。
4.根据权利要求1所述的一种便于固定电子元件的电子元件高温反偏寿命测试机，其特征在于：所述箱门(8)正面的中部固定设有观察窗口(9)。
5.根据权利要求1所述的一种便于固定电子元件的电子元件高温反偏寿命测试机，其特征在于：所述显示屏(2)的底部固定设有显示屏开关和高温箱开关，所述显示屏(2)和高温箱(7)分别通过显示屏开关和高温箱开关与控制箱(1)内部的蓄电池电性连接。
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