[实用新型]一种磁控溅射镀膜仪换样装置有效

专利信息
申请号: 201922160701.2 申请日: 2019-12-05
公开(公告)号: CN211005608U 公开(公告)日: 2020-07-14
发明(设计)人: 马毅;黄先伟;宋宇轩;俞越翎;谢续友;吴伊帆;张泰华 申请(专利权)人: 浙江工业大学
主分类号: C23C14/56 分类号: C23C14/56;C23C14/35
代理公司: 杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213 代理人: 周红芳
地址: 310014 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 磁控溅射 镀膜 换样 装置
【权利要求书】:

1.一种磁控溅射镀膜仪换样装置,其特征在于,包括真空室主腔(101)及真空室副腔(102),所述真空室主腔(101)与真空室副腔(102)之间中间腔室,所述中间腔室分别与真空室主腔(101)与真空室副腔(102)相连通,所述中间腔室内部设有导轨(3),所述导轨(3)上配合设置导轨小车(7),所述导轨小车(7)上设有基片储备盘(5),所述基片储备盘(5)上沿其周向设有一组基片架(6),基片架(6)上设有基片(607);所述导轨小车(7)在导轨(3)上水平移动,从而将基片架(6)在真空室主腔(101)与真空室副腔(102)之间进行转移,进而实现基片(607)的转移。

2.根据权利要求1所述的一种磁控溅射镀膜仪换样装置,其特征在于,所述真空室主腔(101)内设有基片盘(2),所述基片盘(2)上沿其周向设有基片盘边缘凸起(202),所述基片架(6)的边缘处有楔形凸起,且楔形凸起与基片盘边缘凸起(202)相配合,从而实现基片架(6)的定位。

3.根据权利要求1所述的一种磁控溅射镀膜仪换样装置,其特征在于,所述基片架(6)采用拱门型结构,包括半圆形架体及设置在半圆形架体端部的长方形架体。

4.根据权利要求1所述的一种磁控溅射镀膜仪换样装置,其特征在于,所述基片架(6)端部设有销孔,所述基片架(6)端部插接设置圆柱体托(606),且圆柱体托(606)通过销轴插接安装在销孔上,实现与基片架(6)的铰接,所述圆柱体托(606)端部固定设置长方体托(602)。

5.所述根据权利要求4所述的一种磁控溅射镀膜仪换样装置,其特征在于,所述基片储备盘(5)上设有固定端(603),所述长方体托(602)与固定端(603)插接配合。

6.根据权利要求4所述的一种磁控溅射镀膜仪换样装置,其特征在于,所述圆柱体托(606)左右位置分别设有左弹簧(605)及右弹簧(604),且左弹簧(605)及右弹簧(604)一端连接于圆柱体托(606)上,另一端连接于基片架(6)上。

7.根据权利要求1所述的一种磁控溅射镀膜仪换样装置,其特征在于,所述中间腔室上设有插板阀(103),并通过插板阀(103)将真空室主腔(101)与真空室副腔(102)之间进行分隔。

8.根据权利要求1所述的一种磁控溅射镀膜仪换样装置,其特征在于,所述基片储备盘(5)底部设有真空电机(4),所述真空电机(4)与基片储备盘(5)传动连接。

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